[发明专利]放射线检测器及放射线检测方法有效
申请号: | 200780010326.0 | 申请日: | 2007-02-26 |
公开(公告)号: | CN101405620B | 公开(公告)日: | 2012-07-25 |
发明(设计)人: | 富田康弘;白柳雄二;松井信二郎 | 申请(专利权)人: | 浜松光子学株式会社 |
主分类号: | G01T1/36 | 分类号: | G01T1/36;G01T1/17 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 放射线 检测器 检测 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种能量鉴别型的放射线检测器及放射线检测方法。
背景技术
以往,作为放射线检测器众所周知有利用于下光子计数方式,即, 根据构成所入射的放射线的放射线光子的能量而产生输出信号,并通 过一定时间计数而检测上述已产生的输出信号。作为如上所述光子计 数方式的放射线检测器,例如,有专利文献1~3。
专利文献1的放射线检测装置(放射线检测器),对由半导体传感 器检测放射线而产生的输出信号进行波高鉴别,并且根据传感器的光 子能对线量灵敏度的相关性,而在来自各鉴别器的输出中进行修正。 通过实施如上所述修正,而实现半导体传感器的可检测的整个能量范 围的检测灵敏度的均匀化。另外,在专利文献2的放射线检测器中, 通过对每个放射线的入射位置设定能窗(energy window)宽度不同的 能窗,由此,修正依存于入射位置的能量光谱的影响。进而,在专利 文献3的放射线检测器中,根据与第2次能窗相对应的第2计数值、 及相对于第2次能窗的第1主能窗的宽度的比,而串扰修正与第1主 能窗相对应的第1计数值。
专利文献1:日本专利特公平7-11575号公报
专利文献2:日本专利特开平9-269377号公报
专利文献3:日本专利特开平9-318755号公报
发明内容
然而,在上述专利文献1公开的放射线检测器中,根据波高鉴别 后的计数值,调整半导体传感器的检测能量范围的检测灵敏度,但放 射线的检测是在半导体传感器的上述整个检测能量范围中进行的。另 外,在专利文献2中,设定检测能区,该检测能区与向放射线检测器 入射放射线的位置对应,其原因在于,在各入射位置可确切的检测放 射线。另外,在专利文献3中,修正分别检测从Tl-201输出的放射线 和从Tc-99m输出的放射线的能窗间的串扰,在一个能窗下对1条放射 线(例如,从Tl-201的输出的放射线)进行检测。
另一方面,近年来,在应用于对被检查物照射自放射线照射部所 输出的放射线而实施的非破坏检测等的放射线检测器中,要求能量鉴 别型。在能量鉴别型的放射线检测器中,根据放射线光子的能值,而 进行能量鉴别并检测入射至放射线检测器的放射线。
作为取得如上所述的每个能窗的放射线计数值的情况的一个方 法,考虑到使各能窗的宽度大致固定。然而,通常照射至被检查物的 放射线本身具有能量特性,因此,如上所述,在以等能量间隔而划分 的能窗之间,产生对应放射线本身的能量特性的检测灵敏度的差。
因此,本发明的目的在于提供一种能量鉴别型的放射线检测器及 放射线检测方法,其可实现多个能区间的检测灵敏度的均匀化。
本发明的放射线检测器,在多个能区对照射至被检查物并通过被 检查物的放射线进行鉴别并检测,包括,放射线检测部,产生与入射 的放射线所具有的能量相对应的输出信号;及信号处理部,其根据与 用于划分多个能区的N个能量值相对应的第1~第N信号鉴别阈值来 鉴别输出信号,并且对鉴别后的输出信号进行计数,由此取得作为多 个能区内的每个规定时间的放射线计数值的区域别计数值,并且N为 1以上的整数;在将照射至被检查物且通过被检查物前的状态的放射线 设为基准放射线时,第1~第N信号鉴别阈值设定为,使放射线检测 部检测出基准放射线时的多个能区的区域别计数值的基准区域别计数 值大致均匀。
在该构成中,信号鉴别部根据第1~第N信号鉴别阈值,鉴别从 放射线检测部输出的输出信号。然后,信号鉴别部对上述鉴别的输出 信号进行计数,由此,取得多个能区的区域别计数值。由此,根据上 述放射线所具有的能量,在多个能区鉴别并检测所入射至放射线检测 部的放射线。
然而,基准放射线是照射至被检查物的放射线即照射至被检查物 之前的状态下的放射线,因此,在利用放射线检测器检测通过被检查 物的放射线时,多个能区中的每个区域的各个计数值,相对于所对应 的能区的基准区域别计数值变化。因此,多个能区中的检测灵敏度, 取决于基准区域别计数值。而且,在上述放射线检测器中,第1~第N 信号鉴别阈值设定为,使多个能区中基准区域别计数值大致均匀,因 此,可实现多个能区间的检测灵敏度的大致均匀化。
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