[发明专利]半导体存储装置无效

专利信息
申请号: 200780010510.5 申请日: 2007-03-30
公开(公告)号: CN101410908A 公开(公告)日: 2009-04-15
发明(设计)人: 西川和予;上南雅裕;新田忠司 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G11C11/407 分类号: G11C11/407;G11C11/4076;G11C11/4091;G11C11/4099
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汪惠民
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 半导体 存储 装置
【权利要求书】:

1、一种半导体存储装置,其中包括:

地址端子,其输入将存储器阵列中的存储数据读出的地址;

时钟输入端子,其将输入时钟输入;

数据输出端子,其对根据上述地址从存储器阵列读出的数据进行输出;和

时钟输出端子,其对与上述输入时钟同步的输出时钟进行输出;

上述时钟输出端子始终输出第一电压和第二电压中的一方,并且,仅在从上述数据输出端子输出了有效数据的情况下,使输出电压从第一电压迁移到第二电压,或从一方电压迁移到另一方电压。

2、根据权利要求1所述的半导体存储装置,其特征在于,

上述时钟输出端子的上述输出电压的迁移,在依赖于从上述存储器阵列读出数据开始到完成为止的时间,但不依赖于从上述读出开始之后的输入时钟数的这样一个定时进行。

3、根据权利要求2所述的半导体存储装置,其特征在于,

预先设定从上述存储器阵列读出数据开始到完成为止的时间。

4、根据权利要求2所述的半导体存储装置,其特征在于,

基于环境状态来检测从上述存储器阵列读出数据开始到完成为止的时间。

5、根据权利要求2所述的半导体存储装置,其特征在于,

基于虚设数据的读出动作来检测从上述存储器阵列读出数据开始到完成为止的时间。

6、根据权利要求1所述的半导体存储装置,其特征在于,

共用上述地址端子和数据输出端子。

7、根据权利要求1所述的半导体存储装置,其特征在于,

上述数据输出端子,将对以所输入的地址为初始值的连续地址所读出的数据输出。

8、根据权利要求7所述的半导体存储装置,其特征在于,

上述数据输出端子将从上述存储器阵列读出的一个数据分多次输出。

9、根据权利要求7所述的半导体存储装置,其特征在于,

上述数据输出端子将从上述存储器阵列读出的多个数据同时输出。

10、一种半导体存储装置,其中包括:

存储器阵列,其排列有对数据进行存储的多个存储器单元;

读出定时控制部,其与输入时钟同步地生成读出开始信号;

读出电路,其具有读出放大器,根据上述读出开始信号从存储器单元读出数据;

读出完成判定部,其对数据的读出是否已完成进行判定;和

输出控制部,其输出来自上述读出电路的读出数据、和与该读出数据对应并与上述输入时钟同步的输出时钟;

在由上述读出完成判定部判定为读出完成之后,上述输出控制部输出上述读出数据和输出时钟。

11、根据权利要求10的半导体存储装置,其特征在于,

上述读出完成判定部,根据从上述存储器阵列读出数据开始到完成为止的时间是否已达到预先设定的时间来进行上述判定。

12、根据权利要求10的半导体存储装置,其特征在于,

上述读出完成判定部,根据从上述存储器阵列读出数据开始到完成为止的时间是否已达到基于环境状态而设定的时间来进行上述判定。

13、根据权利要求10的半导体存储装置,其特征在于,

上述读出完成判定部,基于虚设数据的读出动作来进行上述判定。

14、根据权利要求10的半导体存储装置,其特征在于,

对以所输入的地址为初始值的连续地址,从上述存储器单元读出数据。

15、根据权利要求14所述的半导体存储装置,其特征在于,

将从上述存储器阵列读出的一个数据分多次输出。

16、根据权利要求14所述的半导体存储装置,其特征在于,

将从上述存储器阵列读出的多个数据同时输出。

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