[发明专利]用于测试安装在控制装置中的至少一个计算单元的方法

权利要求书

1.一种用于测试安装在控制装置中的带计算单元(2，3)的至少一个微控制器的方法，其中该控制装置具有装置接口、至少两个具有扫描链(4，5)的计算单元(2，3)和至少两个存储单元(6，7)，所述方法包括下列步骤：

a)借助于该控制装置接口载入第一测试数据用于第一计算单元(2)的测试；

b)把载入的第一测试数据储存到第二计算单元(3)的第二存储单元(7)中；

c)将该第一计算单元(2)切换到测试模式，在该模式下借助于第二计算单元(3)可以访问第一计算单元(2)的第一扫描链(4)；

d)借助于该第二计算单元(3)把第一测试数据从第二存储单元(7)中读出；

e)借助于该第二计算单元(3)，通过切换为测试模式的第一计算单元(2)中的第一扫描链(4)，转移已读出的第一测试数据，以为该第一计算单元(2)提供测试结果数据；

f)借助于该第二计算单元(3)对已提供的测试结果数据进行可靠性校验，以为该第一计算单元(2)提供测试结果数据，

g)载入第二测试数据用于所述第二计算单元(3)的测试，其中，第二测试数据借助于所述控制装置接口载入，或者，存储于所述第二存储单元(7)中第一测试数据作为第二测试数据通过所述控制装置(1)的内部接口载入；

h)把载入的第二测试数据储存或者写入到所述第一计算单元(2)的第一存储单元(6)中；

i)借助于所述第一计算单元(2)把所述第二计算单元(3)切换到测试模式，在该模式下可以访问所述第二计算单元(3)中的第二扫描链(5)；

j)借助于所述第一计算单元(2)把第二测试数据从所述第一存储单元(6)中读出；

k)借助于所述第一计算单元(2)，通过切换为测试模式的所述第二计算单元(3)中的第二扫描链(5)，转移已读出的第二测试数据，以给所述第二计算单元(3)提供测试结果数据；且

l)借助于第一计算单元(2)对已提供的测试结果数据进行可靠校验，由此为第二计算单元(3)提供测试结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，从所述第二存储单元(7)中读出的第一测试数据借助于所述第二计算单元(3)，通过第一专用接口(8)，并通过所述第一扫描链(4)进行转移，其中所述第二计算单元(3)中借助于该第一专用接口(8)与所述第一扫描链(4)连接在一起。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一专用接口(8)设计为移位寄存器或者ASC接口或者SPI接口。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，从第一存储单元(6)中读出的第一测试数据借助于第一计算单元(2)，通过第二专用接口(9)，并通过第二扫描链(5)进行转移，其中第一计算单元(2)借助于第二专用接口(9)与第二扫描链(5)联接在一起。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述第一专用接口(8)和/或所述第二专用接口(9)分别设计为移位寄存器或者ASC接口或者SPI接口。

6.根据权利要求1至5之一所述的方法，其特征在于，所述控制装置(1)设有时钟(10)用于提供预设时钟脉冲，而在应用所提供的时钟脉冲的情况下，为进行Path-Delay测试而使相应所读的测试数据通过各自的扫描链(4，5)进行转移。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述时钟(10)的时钟脉冲通过控制装置接口进行设置。

8.根据权利要求1至5之一所述的方法，其特征在于，所述控制装置接口设计为CAN总线或者Flex Ray总线或者K-Line总线或者LIN总线。

9.根据权利要求1至5之一所述的方法，其特征在于，相应的所给测试结果数据和/或相应的所给测试结果存储在所述第一计算单元(2)或者所述第二计算单元(3)的存储单元(6，7)的至少一个中，并/或借助控制装置接口用于输出。

10.根据权利要求1至5之一所述的方法，其特征在于，所述第一计算单元(2)和所述第二计算单元(3)集成于单个集成电路中，其中，该集成电路的、不属于所述第一计算单元(2)或者所述第二计算单元(3)的每一个Stuck-At路径都可以通过所述第一计算单元(2)或者所述第二计算单元(3)进行测试。