[发明专利]利用超短T2*弛豫进行细胞测量的系统和方法

权利要求书

1.通过获得一系列自旋回波图像测量具有T₂*衰变曲线的T₂*弛豫的方法，其中T₂*是超短的，所述方法包括下述步骤：

(a)诱导第一自旋回波信号产生第一自旋回波图像；

(b)诱导多个自旋回波信号产生一系列从适合的回波移位到所述T₂*衰变的额外的自旋回波图像；并

(c)采用指数拟合导出T₂*图。

2.根据权利要求1所述的方法，其中T₂*小于或等于2毫秒。

3.根据权利要求1所述的方法，其中所述第一自旋回波信号和所述第二自旋回波信号分别由第一射频(RF)脉冲继之以第二RF脉冲形成。

4.根据权利要求3所述的方法，其中所述第一RF脉冲是90度RF脉冲继之以180度RF脉冲。

5.根据权利要求1所述的方法，其中T₂衰变曲线由关系式M_sse^-t/T2定义。

6.根据权利要求1所述的方法，其中所述T₂*衰变曲线由关系式M_sse^-TE/T2e^-(t-TE)/T2*定义。

7.根据权利要求1所述的方法，其中所述适合的回波移位步长低于1或2毫秒。

8.根据权利要求1所述的方法，其中将所述T₂*图组合并作为完整的T₂*图显示。