[发明专利]径向衰减校正的技术有效

专利信息
申请号: 200780012330.0 申请日: 2007-03-22
公开(公告)号: CN101416092A 公开(公告)日: 2009-04-22
发明(设计)人: Z·哈桑;K·莫伊努尔;T·阮 申请(专利权)人: 英特尔公司
主分类号: G02B13/16 分类号: G02B13/16;G02B13/18
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 朱海煜;张志醒
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 径向 衰减 校正 技术
【说明书】:

背景技术

大多数镜头在中心比在边缘更亮。这种现象称作失光或 渐晕。对于广角镜头、某些长焦镜头和许多低质量镜头,失光尤其显 著。这些低质量镜头往往用于例如移动电话等装置中,因为高质量镜 头的使用会使这类装置的成本增加到在商业上不可行的程度。

可通过补偿技术来减轻失光。因此需要有效的衰减补偿 技术。另外,需要不在实质上增加装置成本、装置功耗和装置复杂度 的技术。

附图说明

图1是示出一种设备的一实施例的简图。

图2是示出示范几何关系的简图。

图3是示范校正系数曲线的图表。

图4、图5A和图5B是示出示范插值方法的图表。

图6是示出可包含在编码模块中的一实现实施例的简 图。

图7A和图7B是示出系数确定实现的实施例的简图。

图8示出逻辑图的一个实施例。

图9示出系统的一个实施例。

具体实施方式

各种实施例一般可针对衰减补偿技术。例如,在一个实 施例中,系数确定模块确定图像传感器的像素的衰减校正系数,以及 衰减校正模块根据像素的强度值和衰减校正系数来校正该像素。衰减 校正系数可基于一个或多个已存储系数值,其中一个或多个系数值对 应于图像传感器的像素与中心位置之间的平方距离。这样,可实现计 算效率的改进。还获得功耗、实现复杂度和面积的减小。可描述其它 实施例并要求其权益。

各种实施例可包括一个或多个元件。元件可包括设置成 执行某些操作的任何结构。根据设计参数或性能限制的给定集合的需 要,各元件可作为硬件、软件或者它们的任何结合来实现。虽然作为 示例采用某种拓扑结构的有限数量的元件来描述某个实施例,但是, 根据给定实现的需要,该实施例可包括采用备选拓扑结构的或多或少 的元件。值得注意的是,提到“一个实施例”或“一实施例”表示结合该 实施例所述的特定特征、结构或特性包含在至少一个实施例中。词组 “在一个实施例中”在本说明书的各个位置中的出现不一定都表示同一 个实施例。

图1示出一种设备的一个实施例。具体来说,图1示出 包括各种元件的设备100。但是,实施例不限于这些元件。例如,实 施例可包括更多或更少的元件以及元件之间的其它耦合。

具体来说,图1表明,设备100可包括光学部件102、 图像传感器104和图像处理模决106。这些元件可通过硬件、软件或 者它们的任何结合来实现。例如,一个或多个元件(例如图像传感器104 和图像处理模块106)可在相同集成电路或芯片上实现。但是,实施例 不限于这个上下文。

光学部件102可包括一个或多个光学装置(例如镜头、反 射镜等),以便将视野中的图像投射到图像传感器104中的多个传感元 件上。例如,图1示出具有镜头103的光学部件。此外,光学部件102 可包括控制这些光学装置的设置的机构。例如,这类机构可控制对焦 操作、光圈设定、变焦操作、快门速度、有效焦距等。但是,实施例 不限于这些示例。

图像传感器104可包括传感元件阵列(未示出)。这些元 件可以是互补金属氧化物半导体(CMOS)传感器、电荷耦合器件(CCD) 或者其它适当的传感元件类型。这些元件可产生与入射到传感器上的 光对应的模拟强度信号(例如电压)。此外,图像传感器104还可包括模 数转换器ADC,它将模拟强度信号转换成数字编码强度值。但是,实 施例不限于这个示例。

因此,图像传感器104把通过光学部件102接收的光转 换成像素值。这些像素值的每一个表示对应传感元件上的具体光强度。 虽然已将这些像素值描述为数字的,但是它们也可以是模拟的。

图像传感器104可具有各种可调整设定。例如,它的传 感元件可具有一个或多个增益设定,所述增益设定定量控制光到电信 号的转换。此外,图像传感器104的ADC可具有一个或多个积分时间, 它们控制累计传感元件输出信号的时长。可根据例如环境照明等环境 因素来修改这类设定。光学部件102和图像传感器104还可共同具有 一个或多个设定。一种这样的设定是光学部件102的一个或多个镜头 与图像传感器104的传感器平面之间的距离。有效焦距是这样一种距 离的一示例。

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