[发明专利]记录和再现设备、记录和再现方法以及确定记录介质类型的方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种记录和再现设备、一种记录和再现方法以及一种确定记录介质类型的方法，并且更加具体地，涉及一种有效地确定记录介质类型的方法、一种使用该方法的记录和再现方法以及一种使用该方法的记录和再现设备。

背景技术

通常，光学记录和再现设备是一种在诸如压缩盘(CD)、数字通用盘(DVD)等的记录介质中记录数据并且再现在记录介质中记录的数据的设备。由于需要处理高密度运动图片以满足用户不断增长的需求和活动图片压缩技术的发展，需要一种高密度记录介质。研制高密度记录介质所必要的基本技术中之一是与光学头即光学拾取器有关的技术。

在以上记录介质中，记录密度可以依赖于投射在记录介质的记录层上的光束直径。换言之，投射并且聚焦在记录介质上的光束直径越小，则记录密度增加更多。在此情形中，聚焦光束的直径主要由两个因素确定。一个是数值孔径(NA)，即，用于聚焦光束的透镜的性能，另一个是在透镜上聚焦的光束的波长。

因为记录密度随着聚焦光束波长降低而增加，具有短波长的光束被用作增加记录密度的一种解决方案。换言之，与使用红光束的情形相比，在使用蓝光束的情形中，能够获得更高的记录密度。然而，在使用传统透镜的远场记录头的情形中，因为光束衍射具有极限，在光束直径降低上也存在极限。为了解决该问题，近期的趋势是研制使用近场光学的近场记录(NFR)设备，从而能够存储并且读出比光束波长更短的单元中的信息。

通过使用具有高于物镜的折射率的透镜，使用透镜的NFR设备获得具有低于衍射极限的极限的光束，并且光束以倏逝波(evanescentwave)的形式传播到靠近界面的记录介质，从而存储高密度位信息。图1是局部地说明在NFR设备中在记录介质上投射光束的透镜和记录介质的示意性视图。如说明的，NFR设备的透镜单元可以被如此配置，使得由物镜111聚焦的光束通过高折射率透镜(high-index lens)112。在此情形中，以等于或者大于临界角度的角度进入高折射率透镜112的光束在发射期间被从高折射率透镜112全折射并且在透镜表面上形成具有弱强度的光束。换言之，形成倏逝波。倏逝波使得能够获得高分辨率，否则在使用单透镜的设备中由于波长的衍射极限而不能实现的此高分辨率。此时，高折射率透镜112和记录介质113在100nm的短距离内非常靠近地相互接近以产生近场从而能够存储由倏逝波引起的高密度位信息。这里，为方便说明，产生如上所述的倏逝波的区域被称作近场。

然而，传统的技术具有如下缺点。

因为，为了维持倏逝波，透镜与记录介质之间应该保持短的距离，因此难以移动物镜自身以改变聚焦位置。

而且，因为从存储在记录介质中的管理信息获得记录介质的结构信息，确定记录介质是否为所需记录介质占用大量时间。

发明内容

技术问题

因此，鉴于以上问题已经完成本发明，并且本发明的一个方面在于提供一种其中被投射到记录介质上的光束的聚焦位置改变的记录和再现设备，以及一种改变聚焦位置的方法。

本发明的另一个方面在于提供一种有效地确定记录介质的结构的方法。

技术方案

根据本发明的一个方面，能够通过提供一种光学拾取器实现以上和其它目的，该光学拾取器包括：透镜单元，其用于聚焦或者投射从光源发射的光束；焦点调节器，其被提供于光束路径中，用于改变在记录介质上投射的光束的位置并且用于扫描记录介质；以及光探测单元，其用于接收被记录介质反射的光束并且产生信号。这里，焦点调节器包括至少一个可调节透镜以改变光束的路径。

根据本发明的一个方面，能够通过提供一种记录和再现设备实现以上和其它目的，所述记录和再现设备包括：透镜单元，其用于聚焦或者投射从光源发射的光束；焦点调节器，其被提供于光束路径中，用于改变在记录介质上投射的光束的位置并且用于扫描记录介质；光探测单元，其用于接收被记录介质反射的光束并且产生信号；以及控制器，其用于使用在扫描期间产生的信号来确定记录介质。这里，控制器响应于变化信号的周期产生有关记录介质的记录层的数目、厚度和位置的信息。例如，当焦点误差信号的数值变为0(零)时，控制器将确定光束聚焦的位置作为记录层的位置，或者当射频信号或者跟踪误差信号的数值最大时，将光束聚焦的位置确定作为记录层的位置。