[发明专利]用于检测可移动物体的移动的检测电路

权利要求书

1.一种用于检测可移动物体(2)的移动的检测电路(1)，所述检测电路(1)包括：

检测器(100，200)，用于检测可移动物体(2)的移动，该检测器(100，200)包括检测单元(101-136，201-204)，用于检测位于该检测单元(101-136，201-204)的位置处的来源于源(4)的光点(3)，位于该位置处的光点(3)取决于所述移动；以及

参考检测器(300)，用于补偿老化变化和/或过程变化，参考检测器(300)包括参考检测单元(301-304)，参考检测单元(301-304)用于标定该检测单元(101-136，201-204)。

2.如权利要求1所述的检测电路(1)，其特征在于：所述检测器(100，200)包括第一检测器(100)，所述第一检测器(100)用于检测所述可移动物体(2)在检测电路(1)的平面内的第一方向的第一移动，所述检测单元(101-136，201-204)包括第一检测单元(101-136)，所述第一检测单元(101-136)用于检测在所述第一检测单元(101-136)的位置处的光点(3)的存在或缺失，所述光点(3)的位置取决于所述第一移动。

3.如权利要求2所述的检测电路(1)，其特征在于：所述第一检测器(100)部分地位于依赖于可移动物体(2)的位置的光点(3)内，而参考检测器(300)则完全地位于独立于可移动物体(2)的位置的光点(3)内。

4.如权利要求1所述的检测电路(1)，其特征在于：所述检测器(100，200)包括第二检测器(200)，所述第二检测器(200)用于检测所述可移动物体(2)在第二方向的第二移动，所述第二方向垂直于所述检测电路(1)的平面，所述光点(3)的强度取决于所述第二移动，所述检测单元(101-136，201-204)包括第二检测单元(201-204)，所述第二检测单元(201-204)用于检测在所述第二检测单元(201-204)的位置处的所述光点(3)的第一强度或第二强度，所述第一强度和所述第二强度是不等于零的不同强度。。

5.如权利要求4所述的检测电路(1)，其特征在于：所述第二检测器(200)完全位于独立于可移动物体(2)的位置的光点(3)内，而参考检测器(300)完全位于独立于可移动物体(2)的位置的光点(3)之外。

6.如权利要求1所述的检测电路(1)，其特征在于：还包括：

源(4)，所述源(4)用于生成光信号，所述可移动物体(2)包括用于将所述光信号反射到所述检测电路(1)的反射体(5)，所述光点(3)从所述反射的光信号产生。

7.如权利要求1所述的检测电路(1)，其特征在于：所述检测单元(101-136，201-204)包括用于生成光电元信号的光电元(420)，所述光电元(420)耦合到用于将所述光电元信号数字化的晶体管(421)，而所述参考检测单元(301-304)包括用于生成参考光电元信号的参考光电元(410)，所述参考光电元(410)与被耦合到该晶体管(421)的参考晶体管(411)耦合。

8.如权利要求1所述的检测电路(1)，其特征在于：所述检测电路(1)是集成检测电路，所述集成检测电路以薄膜多晶硅技术、单晶硅衬底技术、发光二极管技术和有机发光二极管技术中的至少一种技术为基础。

9.一种检测装置(10)，所述检测装置(10)包括如权利要求1所述的检测电路(1)，还包括所述可移动物体(2)。

10.如权利要求9所述的检测装置(10)，其特征在于：所述可移动物体(2)的移动由倾斜所述可移动物体(2)或由向下推动所述可移动物体(2)所导致。

11.一种设备(20)，所述设备(20)包括如权利要求1所述的检测电路(1)，还包括人机界面，所述人机界面包括所述可移动物体(2)。

12.如权利要求11所述的设备(20)，其特征在于：所述人机界面还包括显示器(21)，所述显示器(21)是包括所述检测电路(1)的集成显示器。

13.一种用于经由检测电路(1)检测可移动物体(2)的移动的方法，所述方法包括：

经由检测器(100，200)的第一检测步骤，所述第一检测步骤检测所述可移动物体(2)的移动，所述第一检测步骤包括在所述检测单元(101-136，201-204)的位置处经由检测单元(101-136，201-204)检测来源于源(4)的光点(3)的第一分步骤，所述光点(3)的位置取决于所述移动，以及

经由参考检测器(300)的第二检测步骤，用于补偿老化变化和/或过程变化，所述第二检测步骤包括经由参考检测单元(301-304)来标定所述检测单元(101-136，201-204)的第二分步骤。