[发明专利]光纤温度分布测量装置、光纤温度分布测量方法以及光纤温度分布测量系统

权利要求书

1.一种光纤温度分布测量装置，其特征在于，具有：

光源，其将脉冲光入射到被测量光纤；

信号检测部，其检测出基于上述脉冲光的入射在上述被测量光纤内产 生的后方散射光中所包含的规定的光的感光强度，上述规定的光是斯托克 斯光和反斯托克斯光、或者瑞利光、斯托克斯光和反斯托克斯光、或者瑞 利光和反斯托克斯光；

信号处理部，其基于通过在无氢气氛及氢气氛中进行上述被测量光纤 的温度测量而获得的上述规定的光的感光强度，求出与上述被测量光纤的 基于氢分子吸收的感光强度的变化量相对应的值，并基于上述值，用上述 斯托克斯光的感光强度来修正在实际进行测量的氢气氛中的上述反斯托 克斯光的感光强度，或者用上述瑞利光的感光强度来修正在实际进行测量 的氢气氛中的上述反斯托克斯光的感光强度。

2.根据权利要求1所述的光纤温度分布测量装置，其特征在于，上述 瑞利光是1240nm光的瑞利光。

3.根据权利要求1所述的光纤温度分布测量装置，其特征在于，上述 信号处理部，根据与基于上述光源输出的温度测量用脉冲光的波长而获得 的感光强度的变化量相应的值，修正与上述被测量光纤的温度相应的上述 规定的光的感光强度。

4.根据权利要求2所述的光纤温度分布测量装置，其特征在于，上 述信号处理部，根据与基于其它光源输出的1240nm光的波长而获得的 感光强度的变化量相应的值，修正与上述被测量光纤的温度相应的上述 规定的光的感光强度。

5.一种光纤温度分布测量系统，其特征在于，使用由纯石英纤芯光纤 构成的上述被测量光纤、和权利要求1所述的光纤温度分布测量装置。

6.一种光纤温度分布测量方法，其特征在于，

从光源将脉冲光入射到被测量光纤，

检测出基于上述脉冲光的入射在上述被测量光纤内产生的后方散射 光中所包含的规定的光的感光强度，上述规定的光是斯托克斯光和反斯托 克斯光、或者瑞利光、斯托克斯光和反斯托克斯光、或者瑞利光和反斯托 克斯光，

基于通过在无氢气氛及氢气氛中进行上述被测量光纤的温度测量而获 得的上述规定的光的感光强度，求出与上述被测量光纤的基于氢分子吸收 的感光强度的变化量相对应的值，并基于上述值，用上述斯托克斯光的感 光强度来修正在实际进行测量的氢气氛中的上述反斯托克斯光的感光强 度，或者用上述瑞利光的感光强度来修正在实际进行测量的氢气氛中的上 述反斯托克斯光的感光强度。

7.根据权利要求6所述的光纤温度分布测量方法，其特征在于，上述 瑞利光是1240nm光的瑞利光。

8.一种光纤温度分布测量装置，其特征在于，具有：

光源，其将脉冲光入射到被测量光纤；

信号检测部，其检测出基于上述脉冲光的入射在上述被测量光纤内产 生的后方散射光中所包含的光，即包括反斯托克斯光和参考光的多个规定 的光的感光强度；

信号处理部，其使用上述反斯托克斯光的感光强度，计算出上述被测 量光纤的温度分布，

上述信号处理部具有：

修正部，其针对每个测量地点，根据无氢气氛中的上述被测量光纤的 上述参考光的感光强度与氢气氛中的上述被测量光纤的上述参考光的感 光强度之差求出由上述被测量光纤的氢分子吸收引起的上述参考光的感 光强度的变化量，并对于上述反斯托克斯光的感光强度，进行如下的修正， 即在各测量地点加上在由氢分子吸收产生的上述参考光的感光强度的变 化量上乘以规定的系数而计算的由氢分子吸收产生的上述反斯托克斯光 的感光强度的变化量；

温度分布计算部，其使用进行上述修正后的上述反斯托克斯光的感光 强度，进行上述温度分布的计算。

9.根据权利要求8所述的光纤温度分布测量装置，其特征在于，为 了确定上述规定的系数，而具有系数运算部，其将上述规定的系数设为， 将由上述氢分子吸收产生的上述反斯托克斯光的感光强度的变化量除以 由上述氢分子吸收产生的参考光的感光强度的变化量而得到的值。