[发明专利]用于捕获离子束粒子和聚焦离子束的方法和系统有效

专利信息
申请号: 200780015094.8 申请日: 2007-04-13
公开(公告)号: CN101432841A 公开(公告)日: 2009-05-13
发明(设计)人: 彼得·克雷曼;维特·班威尼斯特;亚历山大·普瑞尔;布莱恩·弗瑞尔;麦可·葛瑞夫 申请(专利权)人: 艾克塞利斯科技公司
主分类号: H01J37/12 分类号: H01J37/12;H01J37/317
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 王新华
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 用于 捕获 离子束 粒子 聚焦 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种离子植入系统,包括:

离子束源,其产生离子束;

射束线组件,其接收来自该离子束源的离子束,所述射束线组件包括:

质量分析器,其选择性地通过选择的离子;

加速/减速元件,其接收来自该质量分析器的离子束,并且改变 该离子束的能量水平;以及

聚焦静电粒子捕捉机,其接收来自该加速/减速元件的离子束, 并且从该离子束移除粒子,所述聚焦静电粒子捕捉机包括:

入口电极,其包括入口孔并被偏压至第一基底电压;

中央电极,其位于该入口电极下游而与其距有距离处,并 包括中央孔且被偏压至中央电压,其中该中央电压小于该第一基底电压; 以及

出口电极,其位于该中央电极下游而与其距有距离处,并 包括出口孔且被偏压至第二基底电压;以及

其中入口电极包括平坦的第一表面和面向中央电极的凹 入第二表面;

其中产生从该入口电极朝向该中央电极的第一静电场,并 且产生从该出口电极朝向该中央电极的第二静电场;以及

末端站台,其接收来自该射束线组件的离子束;

其中该第一静电场包括聚焦部,该聚焦部约在该入口电极处开始,并 且在该中央电极与入口电极之间的中点处结束;以及散焦部,该聚焦部约 在该中央电极与入口电极之间的中点处开始,并且约在该中央电极处结 束。

2.根据权利要求1所述的系统,其中该中央电极的中央电压依据该粒 子的大小及速度设定。

3.根据权利要求1所述的系统,其中该中央电极的负电压为-17kV, 而该第一基底电压约为0V,且该第二基底电压约为0V。

4.根据权利要求1所述的系统,其中该入口孔、该中央孔及该出口孔 为椭圆形。

5.根据权利要求1所述的系统,其中该入口孔、该中央孔及该出口孔 为圆形。

6.根据权利要求1所述的系统,其中该加速/减速元件将该粒子引入至 该离子束之内。

7.根据权利要求1所述的系统,其中该第二静电场包括散焦部,其约 在该中央电极处开始,并且在该中央电极与出口电极之间的中点处结束; 以及聚焦部,其约在该中央电极与出口电极之间的中点处开始,并且约在 该出口电极处结束。

8.根据权利要求7所述的系统,其中该第一静电场的散焦部及该第二 静电场的散焦部包括散焦范围,该粒子以轨道形式绕行于其中并被捕捉。

9.一种用于离子植入作业的聚焦粒子捕捉系统,包括:

入口电极,其包括入口孔并被偏压至第一基底电压;

中央电极,其位于该入口电极下游而与其距有距离处,且该中央电极 包括中央孔并被偏压至中央电压;

出口电极,其位于该中央电极下游而与其距有距离处,且出口电极包 括出口孔并被偏压至第二基底电压,其中该第一基底电压及该第二基底电 压大于该中央电压;

其中入口电极包括平坦的第一表面和面向中央电极的凹入第二表面; 以及

其中产生从该入口电极朝向该中央电极的第一静电场,并且产生从该 出口电极朝向该中央电极的第二静电场;

其中该第一静电场包括聚焦部,该聚焦部约在该入口电极处开始,并 且在该中央电极与入口电极之间的中点处结束;以及散焦部,该聚焦部约 在该中央电极与入口电极之间的中点处开始,并且约在该中央电极处结 束。

10.根据权利要求9所述的系统,其中该中央电极的中央电压约为-18 kV,并且该第一基底电压约为1kV,而该第二基底电压约为0V。

11.根据权利要求9所述的系统,其中包括选择的离子及粒子的离子束 通过该入口孔、该中央孔和该出口孔。

12.根据权利要求9所述的系统,其中该入口电极包括面朝向远离该中 央电极的前表面,和面朝向该中央电极的背表面,其中该背表面具有凹入 形状。

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