[发明专利]欠压检测器系统以及方法无效
申请号: | 200780015515.7 | 申请日: | 2007-03-08 |
公开(公告)号: | CN101432747A | 公开(公告)日: | 2009-05-13 |
发明(设计)人: | T·塞瑟尔 | 申请(专利权)人: | 爱特梅尔公司 |
主分类号: | G06F19/00 | 分类号: | G06F19/00 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 孟 锐 |
地址: | 美国加*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测器 系统 以及 方法 | ||
1.一种欠压检测电路,包括:
比较器,用于检测越过由基准电压指定的欠压阈值,其中,所述比较器具有第一和第二输入端;以及
温度补偿电路,具有并联的两个支路,第一支路提供基本上与温度无关的基准电压,而第二支路提供电源电压的指示,其中,所述第一支路耦合到所述第一输入端,而所述第二支路耦合到所述第二输入端。
2.根据权利要求2所述的检测电路,其中,所述温度补偿电路进一步包括具有用于调节所述基准电压的组件的第三支路。
3.根据权利要求2所述的检测电路,其中,所述组件包括串联的两个电阻器。
4.根据权利要求3所述的检测电路,其中,所述第三支路在所述电阻器之间的节点处耦合到所述第一和第二支路。
5.根据权利要求1所述的检测电路,其中,所述第一支路包括串联的第一电阻器和第二电阻器。
6.根据权利要求5所述的检测电路,其中,所述第一支路在所述第一和第二电阻器之间的第一节点处耦合到所述第一输入端。
7.根据权利要求5所述的检测电路,其中,所述第一支路进一步包括与所述第二电阻器串联并且其阴极接地的第一二极管。
8.根据权利要求1所述的检测电路,其中,所述比较器的所述第一输入端是负输入端或反相输入端。
9.根据权利要求1所述的检测电路,其中,所述第二支路包括第三电阻器。
10.根据权利要求9所述的检测电路,其中,所述第二支路进一步包括与所述第三电阻器串联并且其阴极接地的第二二极管。
11.根据权利要求10所述的检测电路,其中,所述第二支路在所述第三电阻器和所述第二二极管之间的第二节点处耦合到所述第二输入端。
12.根据权利要求1所述的检测电路,其中,所述比较器的所述第二输入端是正输入端或同相输入端。
13.根据权利要求1所述的检测电路,其中,所述第一支路包括串联的第一电阻器、第二电阻器,以及第一二极管,而所述第二支路包括串联的第三电阻器和第二二极管,其中,所述第一和第二支路在所述第一电阻器和所述第三电阻器之间的节点处耦合。
14.根据权利要求13所述的检测电路,进一步包括耦合到所述第一和第二支路的第三支路,所述第三支路具有第四电阻器、第五电阻器,以及所述第四和第五电阻器之间的耦合到所述第一电阻器和所述第三电阻器之间的所述节点的节点。
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