[发明专利]旋转编码装置有效
申请号: | 200780016178.3 | 申请日: | 2007-04-25 |
公开(公告)号: | CN101438134A | 公开(公告)日: | 2009-05-20 |
发明(设计)人: | 艾伦·詹姆斯·霍洛韦 | 申请(专利权)人: | 瑞尼斯豪公司 |
主分类号: | G01D5/347 | 分类号: | G01D5/347;G01D5/38 |
代理公司: | 北京明和龙知识产权代理有限公司 | 代理人: | 郁玉成 |
地址: | 英国格*** | 国省代码: | 英国;GB |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 旋转 编码 装置 | ||
1.一种旋转编码装置,包括一个或多个读取头以及径向标尺,所述径 向标尺包括一系列在圆周上分隔的径向延伸的标尺标记,所述一个或多个读 取头中的每个读取头包括发光部件和测光部件,所述发光部件用于照亮所述 径向标尺,所述测光部件用于检测在读取头分析器平面上形成的干扰条纹, 其特征在于,所述读取头分析器平面相对于包含所述径向标尺的平面倾斜, 并且所述一个或多个读取头可相对所述径向标尺围绕一旋转中心进行旋转, 其中,所述每个读取头的读取头分析器平面朝着所述旋转中心倾斜。
2.根据权利要求1所述的装置,其中,每个读取头的所述读取头分析 器平面发生倾斜,与所述旋转中心交叉。
3.根据权利要求1或2所述的装置,其特征在于,所述一个或多个读 取头中的每个读取头的所述测光部件包括位于所述读取头分析器平面上的 分析器光栅。
4.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,所述分析器光栅具有一 个角节距,所述角节距接近于所述读取头分析器平面上形成的干扰条纹但与 之不相同。
5.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,所述测光部件包括用于 从所述分析器光栅接收光的结构光检测器。
6.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述一个或多个读取头 中的每个读取头的所述发光部件包括折射率光栅。
7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述折射率光栅相对于 包含径向标尺的平面倾斜。
8.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述径向标尺和所述读 取头分析器平面之间的垂直距离基本上等于所述径向标尺和所述折射率光 栅之间的垂直距离。
9.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,每个读取头的所述折射 率光栅位于所述读取头分析器平面内。
10.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述折射率光栅的径向 节距基本上等于所述径向标尺的一系列在圆周方向上相互分隔的标尺标记 的径向节距。
11.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述一个或多个读取头 中的每个读取头的所述发光部件包括光源。
12.根据权利要求11所述的装置,其特征在于,所述光源为非校准光 源。
13.根据权利要求11所述的装置,其特征在于,所述光源包括红外线 发光二极管。
14.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,每个读取头包括读取头 壳体以容纳所述测光部件,其中,所述读取头分析器平面相对于所述读取头 壳体的第一外表面倾斜。
15.根据权利要求14所述的装置,其特征在于,所述读取头壳体的第 一外表面包括基本上透明的窗部件。
16.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述径向标尺为反射径 向标尺。
17.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述径向标尺为能够透 射的径向标尺。
18.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述径向标尺为相位标 尺。
19.一种坐标测量装置,包括根据前面权利要求1-18中任意一项所述 的旋转编码装置。
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