[发明专利]显示面板和包括该显示面板的显示装置无效

专利信息
申请号: 200780018428.7 申请日: 2007-04-11
公开(公告)号: CN101449202A 公开(公告)日: 2009-06-03
发明(设计)人: 谷本和宪;森永润一 申请(专利权)人: 夏普株式会社
主分类号: G02F1/1368 分类号: G02F1/1368;G09F9/00;G09F9/30
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 代理人: 龙 淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 显示 面板 包括 显示装置
【说明书】:

技术领域

本发明涉及显示面板的检查电路结构。

背景技术

在有源矩阵型液晶显示装置的制造工序中,将有源矩阵基板和相对基板(CF基板)组合并注入液晶组装成显示面板后,在安装扫描信号线驱动电路、数据信号线驱动电路等显示面板的驱动电路和控制电路前,设置有进行显示面板的点亮检查,检查配线制造不良等的工序。

在图6中,表示专利文献1中记载的液晶显示面板的检查电路的结构。

图6所示的液晶显示面板具有将有源矩阵基板116和相对基板118组合,在它们之间注入液晶的结构。在有源矩阵基板116和相对基板118重叠的区域中,有效显示区域117是可以用于实际显示的区域,是来自未图示的背光源的光可以透过的区域。在有源矩阵基板116和相对基板118重叠的区域中的有效显示区域117以外的区域是被相对基板118遮光的区域。

有源矩阵基板116在该液晶显示面板的1组邻接的2端边附近,具有不与相对基板118重叠的空白区域,在该空白区域的一方的端边区域安装有数据信号线驱动电路120a,而在另一方的端边区域安装有扫描信号线驱动电路120b。

在有源矩阵基板116中,以夹着数据信号线驱动电路120a和有效显示区域117的方式设置有检查用显示信号线121和作为数据线检查用开关元件的检查用TFT126a,此外,以夹着扫描信号线驱动电路120b和有效显示区域117的方式设置有检查用扫描信号线122和作为扫描线检查用开关元件的检查用TFT126b。

检查用TFT126a的漏极分别与数据线103连接,其源极均与共同的检查用显示信号线121连接。而且,检查用TFT126a的栅极,对于该检查用TFT126a连接的数据线103相应的每种颜色,作为数据线检查用控制信号线,与红的检查用控制信号线125R、绿的检查用控制信号线125G、蓝的检查用控制信号线125B连接。通过检查用输入端子(以下,简略地记为检查端子)130R、130G、130B将信号输入到各数据线检查用控制信号线125R、125G、125B,从检查端子132将信号输入到检查用显示信号线121。检查端子130R、130G、130B、132设置在有源矩阵基板116的空白区域中。

此外,检查用TFT126b的漏极分别与扫描线102连接,其源极均与共同的检查用扫描信号线122连接。而且,检查用TFT126b的栅极与扫描线检查用控制信号线124连接。通过检查端子141将信号输入到扫描线检查用控制信号线124,从检查端子139将信号输入到检查用扫描信号线122。此外,设置有辅助电容配线104,从检查端子143将信号输入到该辅助电容配线104。检查端子139、141、143设置在有源矩阵基板116的空白区域中。

此外,在有源矩阵基板116的空白区域的端边,设置有与接扫描信号线驱动电路120b的配线或设置在空白区域中的相对基板用信号输入端子127连接的多个端子p……、和连接有接数据信号线驱动电路120a的配线的多个端子q……。进一步检查端子127与共用转移(Common Transfer)部119连接。

为了进行上述结构的液晶显示面板的点亮检查,将规定信号输入到相对基板用信号输入端子127和检查端子143,预先设定相对电极和辅助电容配线104的电压,通过从检查端子141输入的信号使全部的检查用TFT126b……处于ON(接通)状态,用从检查端子139输入的信号使全部的扫描线102……处于选择状态,并且通过从检查端子130R、130G、130B输入的信号,使对应颜色的检查用TFT126a……处于ON(接通)状态,将从检查端子132输入的信号供给与处于ON(接通)状态的检查用TFT126a连接的数据线103。

这样,通过在进行RGB的各个颜色显示的同时进行点亮检查,不仅亮点,还能够通过目视容易地进行黑点的检测和邻接绘素彼此之间的泄漏缺陷以及邻接的数据线103、103之间的泄漏缺陷的检测。其中,黑点的检测是当存在绘素电极与不应将信号供给绘素电极的数据线103(一般是将信号供给邻接绘素的数据线103)的泄漏时的缺陷。

此外,在专利文献2中,揭示有在显示区域的外侧具备具有以使扫描线间短路的方式连接的TFT的检查用阵列和具有以使信号线间短路的方式连接的TFT的检查用阵列,当检查时通过使这些检查用阵列的全部TFT处于导通状态进行整个面板的显示的结构。

此外,作为与上述检查电路类似的结构的检查电路,有如图7所示的结构。

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