[发明专利]非晶碳膜、形成非晶碳膜的方法、具有非晶碳膜的导电性部件以及燃料电池用隔板有效
申请号: | 200780018780.0 | 申请日: | 2007-05-22 |
公开(公告)号: | CN101448740A | 公开(公告)日: | 2009-06-03 |
发明(设计)人: | 伊关崇;山田由香;中西和之;大岛正;森广行;堀江俊男;铃木宪一;北原学 | 申请(专利权)人: | 株式会社丰田中央研究所 |
主分类号: | C01B31/02 | 分类号: | C01B31/02;C23C16/26;C23C16/50;H01B1/04;H01B5/14;H01B13/00;H01M8/02 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 王海川;穆德骏 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 非晶碳膜 形成 方法 具有 导电性 部件 以及 燃料电池 隔板 | ||
1.一种非晶碳膜,其包含碳和氢,并且其特征在于:所述非晶碳 膜包含30原子%以下且大于0原子%的氢,并且当将碳的总量作为100 原子%时,具有sp2杂化轨道的碳的存在量为70原子%以上且小于100 原子%。
2.根据权利要求1所述的非晶碳膜,其进一步包含20原子%以下 且大于0原子%的氮。
3.根据权利要求2所述的非晶碳膜,其进一步包含5原子%以下 且大于0原子%的硅。
4.根据权利要求3所述的非晶碳膜,其中硅含量小于1原子%。
5.根据权利要求1所述的非晶碳膜,其中氢含量小于20原子%。
6.根据权利要求1所述的非晶碳膜,其进一步包含3原子%以下 的氧。
7.根据权利要求1所述的非晶碳膜,其(002)面的平均面间距为 0.34~0.50nm。
8.根据权利要求1所述的非晶碳膜,其体积电阻率为102Ω·cm以 下。
9.根据权利要求8所述的非晶碳膜,其体积电阻率为10-1Ω·cm 以下。
10.一种非晶碳膜,其包含碳、氢和硅,并且其特征在于:所述 非晶碳膜包含30原子%以下且大于0原子%的氢以及小于1原子%且大 于0原子%的硅,并且当将碳的总量作为100原子%时,具有sp2杂化 轨道的碳的存在量为70原子%以上且小于100原子%。
11.根据权利要求10所述的非晶碳膜,其中氢含量小于20原子%。
12.根据权利要求10所述的非晶碳膜,其进一步包含3原子%以 下的氧。
13.根据权利要求10所述的非晶碳膜,其(002)面的平均面间距为 0.34~0.50nm。
14.根据权利要求10所述的非晶碳膜,其体积电阻率为102Ω·cm 以下。
15.根据权利要求14所述的非晶碳膜,其体积电阻率为10-1Ω·cm 以下。
16.一种非晶碳膜形成方法,所述方法用于通过等离子体CVD法 在基材表面上形成如权利要求1~9任一项所述的非晶碳膜,
其特征在于:将基材放入反应容器中;将含有如下一种或多种气 体的反应气体引入反应容器中,所述一种或多种气体选自包含具有sp2杂化轨道的碳的碳环化合物气体、和包含具有sp2杂化轨道的碳以及硅 和/或氮的杂环化合物气体;以及放电。
17.根据权利要求16所述的非晶碳膜形成方法,其中所述碳环化 合物气体的碳环化合物为芳香烃化合物。
18.根据权利要求17所述的非晶碳膜形成方法,其中所述芳香烃 化合物为选自苯、甲苯、二甲苯和萘中的一种或多种。
19.根据权利要求16所述的非晶碳膜形成方法,其中所述杂环化 合物气体的杂环化合物为包含氮的含氮杂环化合物。
20.根据权利要求19所述的非晶碳膜形成方法,其中所述含氮杂 环化合物为选自吡啶、吡嗪和吡咯中的一种或多种。
21.根据权利要求16所述的非晶碳膜形成方法,其中所述基材的 温度为500℃以上。
22.根据权利要求21所述的非晶碳膜形成方法,其中所述基材的 温度为600℃以上。
23.根据权利要求16所述的非晶碳膜形成方法,其中在1000V以 上放电。
24.根据权利要求23所述的非晶碳膜形成方法,其中在2000V以 上放电。
25.根据权利要求16所述的非晶碳膜形成方法,其中所述反应气 体包含含氮芳香化合物,并且在2000V以上放电。
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