[发明专利]非晶碳膜、形成非晶碳膜的方法、具有非晶碳膜的导电性部件以及燃料电池用隔板有效

专利信息
申请号: 200780018780.0 申请日: 2007-05-22
公开(公告)号: CN101448740A 公开(公告)日: 2009-06-03
发明(设计)人: 伊关崇;山田由香;中西和之;大岛正;森广行;堀江俊男;铃木宪一;北原学 申请(专利权)人: 株式会社丰田中央研究所
主分类号: C01B31/02 分类号: C01B31/02;C23C16/26;C23C16/50;H01B1/04;H01B5/14;H01B13/00;H01M8/02
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 王海川;穆德骏
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 非晶碳膜 形成 方法 具有 导电性 部件 以及 燃料电池 隔板
【权利要求书】:

1.一种非晶碳膜,其包含碳和氢,并且其特征在于:所述非晶碳 膜包含30原子%以下且大于0原子%的氢,并且当将碳的总量作为100 原子%时,具有sp2杂化轨道的碳的存在量为70原子%以上且小于100 原子%。

2.根据权利要求1所述的非晶碳膜,其进一步包含20原子%以下 且大于0原子%的氮。

3.根据权利要求2所述的非晶碳膜,其进一步包含5原子%以下 且大于0原子%的硅。

4.根据权利要求3所述的非晶碳膜,其中硅含量小于1原子%。

5.根据权利要求1所述的非晶碳膜,其中氢含量小于20原子%。

6.根据权利要求1所述的非晶碳膜,其进一步包含3原子%以下 的氧。

7.根据权利要求1所述的非晶碳膜,其(002)面的平均面间距为 0.34~0.50nm。

8.根据权利要求1所述的非晶碳膜,其体积电阻率为102Ω·cm以 下。

9.根据权利要求8所述的非晶碳膜,其体积电阻率为10-1Ω·cm 以下。

10.一种非晶碳膜,其包含碳、氢和硅,并且其特征在于:所述 非晶碳膜包含30原子%以下且大于0原子%的氢以及小于1原子%且大 于0原子%的硅,并且当将碳的总量作为100原子%时,具有sp2杂化 轨道的碳的存在量为70原子%以上且小于100原子%。

11.根据权利要求10所述的非晶碳膜,其中氢含量小于20原子%。

12.根据权利要求10所述的非晶碳膜,其进一步包含3原子%以 下的氧。

13.根据权利要求10所述的非晶碳膜,其(002)面的平均面间距为 0.34~0.50nm。

14.根据权利要求10所述的非晶碳膜,其体积电阻率为102Ω·cm 以下。

15.根据权利要求14所述的非晶碳膜,其体积电阻率为10-1Ω·cm 以下。

16.一种非晶碳膜形成方法,所述方法用于通过等离子体CVD法 在基材表面上形成如权利要求1~9任一项所述的非晶碳膜,

其特征在于:将基材放入反应容器中;将含有如下一种或多种气 体的反应气体引入反应容器中,所述一种或多种气体选自包含具有sp2杂化轨道的碳的碳环化合物气体、和包含具有sp2杂化轨道的碳以及硅 和/或氮的杂环化合物气体;以及放电。

17.根据权利要求16所述的非晶碳膜形成方法,其中所述碳环化 合物气体的碳环化合物为芳香烃化合物。

18.根据权利要求17所述的非晶碳膜形成方法,其中所述芳香烃 化合物为选自苯、甲苯、二甲苯和萘中的一种或多种。

19.根据权利要求16所述的非晶碳膜形成方法,其中所述杂环化 合物气体的杂环化合物为包含氮的含氮杂环化合物。

20.根据权利要求19所述的非晶碳膜形成方法,其中所述含氮杂 环化合物为选自吡啶、吡嗪和吡咯中的一种或多种。

21.根据权利要求16所述的非晶碳膜形成方法,其中所述基材的 温度为500℃以上。

22.根据权利要求21所述的非晶碳膜形成方法,其中所述基材的 温度为600℃以上。

23.根据权利要求16所述的非晶碳膜形成方法,其中在1000V以 上放电。

24.根据权利要求23所述的非晶碳膜形成方法,其中在2000V以 上放电。

25.根据权利要求16所述的非晶碳膜形成方法,其中所述反应气 体包含含氮芳香化合物,并且在2000V以上放电。

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