[发明专利]热处理方法和热处理装置、基板处理装置无效
申请号: | 200780020384.1 | 申请日: | 2007-05-28 |
公开(公告)号: | CN101461042A | 公开(公告)日: | 2009-06-17 |
发明(设计)人: | 三好秀典 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | H01L21/316 | 分类号: | H01L21/316 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 | 代理人: | 龙 淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 热处理 方法 装置 处理 | ||
1.一种热处理方法,其特征在于,包括:
准备具有通过涂布形成的膜的基板的步骤;和
在具有还原性的有机化合物的气氛下,对所述基板进行加热的步骤。
2.如权利要求1所述的热处理方法,其特征在于:
所述有机化合物包括醇、醛和羧酸中的至少一种以上。
3.一种热处理方法,其特征在于,包括:
准备形成有低介电常数层间绝缘(low-k)膜的基板的步骤;和
在具有还原性的有机化合物的气氛下,对所述基板进行加热的步骤。
4.如权利要求3所述的热处理方法,其特征在于:
所述有机化合物包括醇、醛和羧酸中的至少一种。
5.一种热处理方法,其特征在于,包括:
将具有通过涂布形成的膜的基板收容在处理容器内的步骤;
向所述处理容器内供给具有还原性的气相的有机化合物的步骤;和
在供给所述气相的有机化合物后的所述处理容器内,对所述基板进行加热的步骤。
6.如权利要求5所述的热处理方法,其特征在于:
所述气相的有机化合物通过利用不活泼气体使液相或固相的有机化合物起泡而生成。
7.如权利要求6所述的热处理方法,其特征在于:
供给所述有机化合物时,将用于稀释所述有机化合物的稀释气体供给至所述处理容器内。
8.如权利要求5所述的热处理方法,其特征在于:
所述处理容器内的基板的加热,一边将所述处理容器内减压至规定的压力一边进行。
9.如权利要求5所述的热处理方法,其特征在于:
所述有机化合物包括醇、醛和羧酸中的至少一种。
10.一种热处理方法,其特征在于,包括:
将形成有低介电常数层间绝缘(low-k)膜的基板收容在处理容器内的步骤;
向所述处理容器内供给具有还原性的气相的有机化合物的步骤;和
在供给所述气相的有机化合物后的所述处理容器内,对所述基板进行加热的步骤。
11.如权利要求10所述的热处理方法,其特征在于:
所述气相的有机化合物通过利用不活泼气体使液相或固相的有机化合物起泡而生成。
12.如权利要求11所述的热处理方法,其特征在于:
供给所述有机化合物时,将用于稀释所述有机化合物的稀释气体供给至所述处理容器内。
13.如权利要求10所述的热处理方法,其特征在于:
所述处理容器内的基板的加热,一边将所述处理容器内减压至规定的压力一边进行。
14.如权利要求10所述的热处理方法,其特征在于:
所述有机化合物包括醇、醛和羧酸中的至少一种。
15.一种热处理装置,其特征在于,具有:
处理容器,收容具有通过涂布形成的膜的基板;
有机化合物供给机构,向所述处理容器内供给具有还原性的气相的有机化合物;和
加热机构,在供给所述气相的有机化合物后的所述处理容器内,对基板进行加热。
16.如权利要求15所述的热处理装置,其特征在于:
所述有机化合物供给机构通过利用不活泼气体使液相或固相的有机化合物起泡,成为气相,供给至所述处理容器内。
17.如权利要求15所述的热处理装置,其特征在于:
还具有将用于稀释所述有机化合物的稀释气体供给至所述处理容器内的稀释气体供给机构。
18.如权利要求15所述的热处理装置,其特征在于:
还具有至少在用所述加热机构对基板进行加热时,将所述处理容器内减压至规定的压力的减压机构。
19.如权利要求15所述的热处理装置,其特征在于:
所述有机化合物供给机构供给包括醇、醛和羧酸中的至少一种的有机化合物。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造