[发明专利]通过闭合环路方法生产硅有效
申请号: | 200780020540.4 | 申请日: | 2007-04-13 |
公开(公告)号: | CN101460398A | 公开(公告)日: | 2009-06-17 |
发明(设计)人: | 亚科夫·E·库特索夫斯基;谢尔登·B·戴维斯 | 申请(专利权)人: | 卡伯特公司 |
主分类号: | C01B33/035 | 分类号: | C01B33/035;C30B15/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 宋 莉 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 通过 闭合 环路 方法 生产 | ||
1.一种生产硅的方法,包括:
(a)提供气态三氯硅烷,
(b)在基体的存在下、在引起硅在该基体上的沉积并产生四氯化硅副 产物的温度下,使该气态三氯硅烷与氢反应,
(c)使该四氯化硅副产物气化以形成气态四氯化硅,
(d)将该气态四氯化硅转化为具有200nm或者更小的平均初级粒径 和500μm或者更大的平均团聚体尺寸的细粒硅,
(e)通过熔融该细粒硅而形成硅熔体,和
(f)从该硅熔体形成固体硅。
2.权利要求1的方法,其中沉积在该基体上的硅含有每种不超过1ppm 的金属杂质、不超过40ppm的碳、不超过50ppm的氧、不超过3ppm的硼、 和不超过1ppm的磷。
3.权利要求2的方法,其中从该硅熔体形成的固体硅含有每种不超过 1ppm的金属杂质、不超过40ppm的碳、不超过50ppm的氧、不超过3ppm 的硼、和不超过1ppm的磷。
4.权利要求3的方法,其中该细粒硅含有每种不超过1ppm的金属杂 质、不超过40ppm的碳、不超过50ppm的氧、不超过3ppm的硼、和不超 过1ppm的磷。
5.权利要求1的方法,其中沉积在该基体上的硅、从该硅熔体形成的 硅、和/或该细粒硅含有每种不超过0.1ppm的金属杂质、不超过4ppm的碳、 不超过5ppm的氧、不超过0.3ppm的硼、和不超过0.1ppm的磷。
6.权利要求1的方法,其中该三氯硅烷含有每种不超过10ppm的金属 杂质、400ppm的碳、500ppm的氧、30ppm的硼和10ppm的磷。
7.权利要求6的方法,其中该三氯硅烷含有每种不超过1ppm的金属 杂质、40ppm的碳、50ppm的氧、3ppm的硼和1ppm的磷。
8.权利要求1的方法,其中该气态三氯硅烷与氢反应的温度为1050℃ ~1250℃。
9.权利要求1的方法,其中该方法进一步包括将所沉积的硅与该基体 分离。
10.权利要求1的方法,其中该基体为负载在载体材料上的硅。
11.权利要求10的方法,其中该载体材料为石墨。
12.权利要求10的方法,其中该载体材料用氧化剂除去。
13.权利要求12的方法,其中该氧化剂为发烟硝酸或者铬硫酸。
14.权利要求1的方法,其中该基体为石墨。
15.权利要求14的方法,其中该基体用氧化剂除去。
16.权利要求15的方法,其中该氧化剂为发烟硝酸或者铬硫酸。
17.权利要求1的方法,其中该方法进一步包括将在步骤(b)中获得的 沉积硅熔融。
18.权利要求17的方法,其中该方法进一步包括从熔融的在步骤(b)中 获得的沉积硅形成固体硅。
19.权利要求17的方法,其中将该熔融的沉积硅与步骤(e)的硅熔体组 合。
20.权利要求1的方法,其中该气态三氯硅烷与氢的反应产生气态氯化 氢副产物。
21.权利要求20的方法,其中将该气态氯化氢副产物添加到冶金级硅 中以生产三氯硅烷。
22.权利要求1-21中任一项的方法,其中步骤(d)包括:
(d1)将该气态四氯化硅转化为具有200nm或者更小的平均初级粒径 和500μm或者更小的平均团聚体尺寸的硅颗粒,和
(d2)将在步骤(d1)中获得的硅颗粒转化为具有200nm或者更小的平 均初级粒径和500μm或者更大的平均团聚体尺寸的细粒硅。
23.权利要求22的方法,其中步骤(d2)包括重复步骤(d1)并添加在先前 步骤(d1)中获得的硅颗粒。
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