[发明专利]多管成像系统散射校正有效

专利信息
申请号: 200780022974.8 申请日: 2007-06-13
公开(公告)号: CN101472524A 公开(公告)日: 2009-07-01
发明(设计)人: B·戴维;M·格拉斯;A·F·莱瓦尔特;R·皮蒂格 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 王 英
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 成像 系统 散射 校正
【权利要求书】:

1.一种计算机断层摄影重建方法,包括:

从围绕成像区域(22)旋转的至少两个X射线源(14)同时发射辐射通过所述成像区域(22),并用相应的各组探测器(24)探测投影数据,所述投影数据包括由所述至少两个X射线源(14)中相应的一个发射的原发辐射和由所述至少两个X射线源(14)中另一个发射的交叉散射辐射;

在多个分别的交叉散射采样间隔(50,52,54,56)内切换所述至少两个X射线源(14)中每一个的输出状态,并用所述各组探测器(24)中相应的一组探测由所述至少两个X射线源(14)中其他的所发射的交叉散射辐射,其中,所述交叉散射采样间隔在多个帧上有角间距,以允许所述至少两个X射线源(14)贯穿至少一个帧同时发射辐射;

从相应的交叉散射样本中导出每组探测器(24)的散射校正数据;

用相应的散射校正数据来散射校正所述投影数据;以及

重建所述散射校正后的投影数据来生成至少一幅图像。

2.如权利要求1所述的方法,还包括对所述交叉散射样本进行插值以生成所采样帧之间的各帧的交叉散射样本。

3.如权利要求1所述的方法,还包括:

确定所述交叉散射辐射随旋转角度变化的角频率;以及

根据所述角频率的函数计算所述交叉散射采样的角间距。

4.如权利要求3所述的方法,还包括:

确定图像辐射统计特性;以及

调整所述交叉散射采样角间距以实现期望的统计特性。

5.如权利要求4所述的方法,其中,所述统计特性包括信噪比。

6.如权利要求1所述的方法,还包括通过平衡在较高比例的数据采集时间内同时发射辐射与采集用于导出交叉散射信号的交叉散射样本,以便散射校正所述投影数据以供进行重建,从而优化所述交叉散射采样的所述角间距。

7.如权利要求6所述的方法,其中,所述角间距基于在90%以上的数据采集周期内同时发射辐射。

8.如权利要求1所述的方法,还包括使用触发信号来确定何时探测交叉散射样本。

9.如权利要求8所述的方法,其中,所述触发信号对应于心脏的电活动。

10.如权利要求1所述的方法,还包括在心脏CT扫描期间用同时获得的正被扫描的受检者心脏的ECG来选通采集交叉散射信号。

11.如权利要求10所述的方法,其中,所述选通步骤触发所述交叉散射采样以在探测投影数据的心脏相位之间发生。

12.如权利要求1所述的方法,其中,用于所述交叉散射采样的所述角间距贯穿数据采集周期是均匀的和不均匀的中之一。

13.如权利要求1所述的方法,还包括:

当只有一个所述X射线源(14)发射辐射时,探测原发辐射样本;以及

将所述原发辐射样本和散射校正后的投影样本进行比较,以确定所述散射校正的性能。

14.如权利要求1所述的方法,还包括采用包含180度轴向采集、多周期选通轴向扫描和螺旋扫描中至少一个的数据采集方案,在所述180度轴向采集中在180度加扇角上探测数据。

15.一个计算机断层摄影系统(10),包括:

至少两个X射线源(14),其围绕成像区域(22)旋转并同时发射辐射通过所述成像区域(22),其中,使所述至少两个X射线源(14)中的每一个在分别的交叉散射采样间隔(50,52,54,56)内不工作,在所述交叉散射采样间隔中以采样角间距的方式对所述已不工作的X射线源(14)的交叉散射辐射进行采样,以允许所述至少两个X射线源(14)贯穿至少一个数据采集帧同时发射辐射;

用于所述至少两个X射线源(14)中每一个的至少一个探测器(24),其中,所述至少一个探测器(24)在所述至少两个X射线源(14)同时发射辐射时探测投影数据,并且探测所述已不工作的X射线源(14)的交叉散射辐射;

插值器(36),其从所述探测到的交叉散射样本中产生散射校正样本以生成在所述采集帧之间的各帧的样本;

校正部件(38),其用相应的散射校正数据来对投影数据进行散射校正;和

重建系统(42),其重建所述散射校正后的投影数据,以生成至少一幅图像。

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