[发明专利]用于生产半导体级硅的装置和方法无效

专利信息
申请号: 200780023487.3 申请日: 2007-06-20
公开(公告)号: CN101495681A 公开(公告)日: 2009-07-29
发明(设计)人: 施泰因·朱尔斯鲁德;蒂克·劳伦斯·纳斯 申请(专利权)人: REC斯坎沃佛股份有限公司
主分类号: C30B29/06 分类号: C30B29/06;C30B15/00;C30B11/00
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 郇春艳;樊卫民
地址: 挪威波*** 国省代码: 挪威;NO
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摘要:
搜索关键词: 用于 生产 半导体 装置 方法
【权利要求书】:

1.用于生产半导体级硅锭块的方法,其中通过以下步骤充分减少 或消除了热区中氧的存在:

-在由氮化硅、碳化硅或这些的复合物制成的坩埚中,结晶半 导体级硅锭块,任选还包括进料硅材料的熔融,

-在硅锭块结晶期间,将所述坩埚容纳在具有惰性气氛的密封 热区中,任选还包括进料硅材料的熔融,

-在热区中使用包括热绝缘元件的承载构建元件,该承载构建 元件由碳和/或石墨材料制成,和

-在热区中使用由氮化硅Si3N4制成的电绝缘元件。

2.根据权利要求1所述的方法,其中所述坩埚用无氧化物的隔离 涂层涂覆。

3.根据权利要求1所述的方法,其中所述半导体级结晶方法是布 里奇曼法或相关的定向凝固法、块浇铸法、或者用于单晶硅晶体生长 的CZ法。

4.根据权利要求1~3中任一项所述的方法,其中形成的硅锭块是 太阳能级硅锭块。

5.用于制造半导体级硅锭块的装置,其包括具有惰性气氛的热区, 其中

-在热区中包括热绝缘元件的所述装置的所有承载构建元件由 碳和/或石墨材料制成,

-在热区中的所述电绝缘元件由氮化硅Si3N4制成,和

-坩埚由氮化硅Si3N4、或者碳化硅SiC或者这些的复合物制成。

6.根据权利要求5所述的装置,其中用无氧化物的隔离涂层涂覆 所述坩埚。

7.浇铸用于光伏应用的多晶晶片生产用锭块的结晶炉,其特征在 于在热区中的所有承载和功能元件由非氧化物的材料制成。

8.根据权利要求5或7所述的熔炉,其中所述浇铸坩埚由氮化硅 Si3N4、碳化硅SiC或者这些的复合物制成。

9.根据权利要求5或7所述的熔炉,其中所述电绝缘元件由Si3N4制成。

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