[发明专利]半导体存储装置管理系统、半导体存储装置、主机装置、程序、半导体存储装置的管理方法

权利要求书

1.一种对半导体存储装置的装置寿命进行管理的半导体存储装置管理系统，该半导体存储装置具有存储数据的半导体存储区域、和代替该半导体存储区域内的不良块的不良块代替区域；该半导体存储装置管理系统具有：

消耗块的数量检测单元，其对所述不良块代替区域的消耗块的数量进行检测；和

寿命报告单元，其基于所述消耗块的数量检测单元的检测结果，对所述半导体存储装置的装置寿命进行预测，并报告该预测结果，

所述寿命报告单元，基于所述不良块代替区域的单位时间中的后天性不良块发生数量的最坏值，对所述装置寿命进行预测。

2.根据权利要求1所述的半导体存储装置管理系统，其特征在于，还具有：

阶段报告单元，其对从所述消耗块的数量检测单元的检测结果得到的所述不良块代替区域的消耗率或剩余率进行阶段性报告。

3.根据权利要求2所述的半导体存储装置管理系统，其特征在于，还具有：

平滑化单元，其对所述半导体存储区域内各块的改写次数进行平滑化。

4.根据权利要求3所述的半导体存储装置管理系统，其特征在于，

所述半导体存储区域和所述不良块代替区域由非易失性存储器构成。

5.根据权利要求3所述的半导体存储装置管理系统，其特征在于，

所述寿命报告单元和/或所述阶段报告单元，利用画面显示、声音输出、电子邮件发送、命令发送、电话中的任一方式进行报告。

6.根据权利要求3所述的半导体存储装置管理系统，其特征在于，

所述半导体存储装置管理系统，由所述半导体存储装置和访问所述半导体存储装置的主机装置构成；所述半导体存储装置，具有用以实现所述消耗块的数量检测单元和所述平滑化单元的存储装置侧控制器；所述主机装置，具有用以实现所述寿命报告单元和所述阶段报告单元的主机侧控制器。

7.根据权利要求6所述的半导体存储装置管理系统，其特征在于，

所述主机侧控制器，轮询所述存储装置侧控制器，取得所述消耗块的数量检测单元的检测结果。

8.一种半导体存储装置，其适用于权利要求1～7中任意一项所述的半导体存储装置管理系统。

9.一种主机装置，其适用于权利要求6所述的半导体存储装置管理系统。

10.一种半导体存储装置的管理方法，该半导体存储装置具有存储数据的半导体存储区域、和代替该半导体存储区域内的不良块的不良块代替区域，

所述管理方法基于所述不良块代替区域的单位时间中的后天性不良块发生数量的最坏值，对所述半导体存储装置的装置寿命进行预测，并报告该预测结果。