[发明专利]在磨碎装置中探测粒料的量的方法有效

专利信息
申请号: 200780024266.8 申请日: 2007-05-15
公开(公告)号: CN101478903A 公开(公告)日: 2009-07-08
发明(设计)人: F·博洛涅西;M·米拉尔迪;R·齐亚尼 申请(专利权)人: 塞可IPR有限公司
主分类号: A47J42/38 分类号: A47J42/38;A47J31/40
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 朱德强
地址: 爱尔兰*** 国省代码: 爱尔兰;IE
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摘要:
搜索关键词: 磨碎 装置 探测 方法
【权利要求书】:

1.一种在转动磨碎部件的容器中探测粒料的量的方法,所述方法包括步骤:

-在磨碎循环的第一间隔期间,为转动磨碎部件供给第一驱动转矩;

-具有指示在第一驱动转矩下的所述转动磨碎部件的转动时段的第一值;

-在所述循环的第二间隔期间,为转动磨碎部件供应比第一驱动转矩小的第二驱动转矩;

-测量指示在第二驱动转矩下的所述转动磨碎部件的相应转动时段的第二值;

-处理第一值和第二值,用于产生指示在容器内粒料的量的信息,其中处理步骤包括估计在第一值与第二值之间的差的步骤,以便产生表示在第一值与第二值之间的偏差值的量,其中处理步骤还包括将所述量与阈值比较的步骤。

2.根据权利要求1所述的探测方法,还包括当所述量低于所述阈值时发出基本上缺少粒料的量的状态信号的步骤。

3.根据权利要求1所述的探测方法,其中供给第一驱动转矩的步骤包括将第一运行功率值供给到驱动转动磨碎部件的电动机的步骤。

4.根据权利要求3所述的探测方法,其中提供第二驱动转矩的步骤包括将所述电动机从第一运行功率值引到第二运行功率值的步骤,所述第二运行功率值低于第一运行功率值。

5.根据权利要求4所述的探测方法,其中第一运行功率值和第二运行功率值是可输送到电动机的额定功率的百分比。

6.根据权利要求5所述的探测方法,其中第一运行功率值等于大约100%的所述额定功率。

7.根据权利要求5所述的探测方法,其中第二运行功率值大约等于额定功率的50%、60%、70%其中任一个。

8.根据权利要求1所述的探测方法,其中当容器内的粒料的量达到允许额定功率操作的程度时,所述第二驱动转矩达到接近由粒料提供的抗转矩的程度。

9.根据权利要求1所述的探测方法,其中具有指示转动磨碎部件的转动时段的第一值的步骤包括在磨碎循环的第一间隔的第一部分中测量第一值的步骤。

10.根据权利要求1所述的探测方法,其中测量指示转动磨碎部件的转动时段的第二值的步骤在磨碎循环的第二间隔的第二部分中进行。

11.根据权利要求9所述的探测方法,其中测量第一值的步骤包括在磨碎循环的第一间隔的基本上结尾选择第一部分的步骤。

12.根据权利要求10所述的探测方法,其中测量第二值的步骤包括选择基本上等于第二间隔的第二部分的步骤。

13.根据权利要求1所述的探测方法,还包括在磨碎循环基本上结尾选择第二间隔的步骤。

14.根据权利要求9所述的探测方法,其中测量第一值的步骤和测量第二值的步骤通过使用转动磨碎部件的转动时段的探测装置来达到,所述探测装置与转动磨碎部件相关联。

15.根据权利要求10所述的探测方法,其中测量第一值的步骤和测量第二值的步骤通过使用转动磨碎部件的转动时段的探测装置来达到,所述探测装置与转动磨碎部件相关联。

16.根据权利要求14所述的探测方法,其中探测装置包括适于在转动磨碎部件的转动时段完成时产生电脉冲的至少一个传感器,所述转动时段根据至少两个连续电脉冲而被限定。

17.根据权利要求14所述的探测方法,其中探测装置包括一对霍尔效应传感器。

18.根据权利要求1所述的探测方法,还包括在下限值与高限值之间范围的值的间隔内选择阈值的步骤。

19.根据权利要求18所述的探测方法,还包括限定下限值的步骤,所述下限值表示基本上粒料缺少的状态。

20.根据权利要求19所述的探测方法,还包括限定上限值的步骤,所述上限值表示粒料存在的状态。

21.根据权利要求2所述的探测方法,其中发出基本上粒料的量缺少的状态信号的步骤包括通过用户接口而致动与转动磨碎部件相关联的信号装置的步骤。

22.根据权利要求21所述的探测方法,其中信号装置包括适于显示相应报警信息的显示器。

23.根据权利要求21所述的探测方法,其中所述信号装置包括灯光报警器。

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