[发明专利]成像装置及方法

权利要求书

1、一种用于探查物体的装置，包括：

控制器，配置为生成具有周期幅值变化的驱动信号；

源，可由控制器操作以发射源束，从而照射物体，所述源束包括具有周期幅值变化的电磁射线束，其周期幅值变化响应于驱动信号的周期幅值变化；

检测器，被配置为检测已经被射出穿过至少物体的一部分的源束的一部分，并生成响应于所述源束的所述部分的幅值变化而具有幅值变化的检测器信号；

所述控制器被进一步配置为响应于检测器信号和参考信号间幅值的不同，而生成不同的值。

2、根据权利要求1的装置，其中所述参考信号是具有与所述驱动信号相同频率的周期信号。

3、根据权利要求1或2的装置，被配置为实现所述参考信号和所述检测器信号间的零差功能，从而生成差异值。

4、根据权利要求2或3的装置，其中所述参考信号对应于所述驱动信号。

5、根据权利要求1的装置，其中参考信号是具有不同于所述驱动信号的频率的周期参考信号。

6、根据权利要求5的装置，被配置为实现所述参考信号和所述检测器信号间的外差功能，从而生成差异值。

7、根据权利要求1-6中的任一权利要求的装置，被配置为实现在所述参考信号和所述检测器信号间的自动校正功能，从而生成差异值。

8、根据权利要求1-7中的任一权利要求的装置，被配置为实现在所述参考信号和所述接收的信号间的锁定检测功能，从而生成差异值。

9、根据前述权利要求中任一权利要求的装置，其中所述电磁射线束为具有700至2000nm范围内波长的电磁射线。

10、根据权利要求9的装置，其中电磁射线束为具有700至1000nm范围内波长的电磁射线。

11、根据权利要求10的装置，其中电磁射线束为具有800至900nm范围内波长的电磁射线。

12、根据前述权利要求中任一权利要求的装置，其中所述驱动信号和所述参考信号的周期幅值变化为方波信号。

13、根据前述权利要求中任一权利要求的装置，其中所述驱动信号和所述参考信号的周期幅值变化为正弦波信号。

14、根据前述权利要求中任一权利要求的装置，可操作以根据所述待测物体移动所述检测器。

15、根据前述权利要求中任一权利要求的装置，可操作以根据所述检测器移动所述待测物体。

16、根据前述权利要求中任一权利要求的装置，其中所述检测器包括光电探测器元件。

17、根据前述权利要求中任一权利要求的装置，其中所述检测器包括光电探测器元件阵列。

18、根据权利要求17的装置，其中所述阵列是线性阵列。

19、根据权利要求17的装置，其中所述阵列是平面阵列。

20、根据前述权利要求中任一权利要求的装置，被配置为工作于传输模式，所述检测器被设置为检测从待测物体的一边穿过至另一边的电磁射线束，在与提供源的一侧相对的物体一侧提供该检测器。

21、根据前述权利要求中任一权利要求的装置，被配置为工作于反射模式，所述检测器被设置为检测被待测物反射的电磁射线束，在与源同侧的物体一侧提供该检测器。

22、根据权利要求1-21中的任一权利要求的装置，可配置为工作于反射模式或者传输模式的一种或两种。

23、根据前述权利要求中任一权利要求的装置，其中所述源被配置为发射一系列波长或者多种波长的电磁射线。

24、根据前述权利要求中任一权利要求的装置，其中所述检测器被配置为检测一系列波长或者多种波长的电磁射线。

25、根据权利要求24的装置，其中所述检测器包括可调滤波器。

26、根据权利要求24或25的装置，包括多个检测器，所述多个检测器中的每一个被配置为检测各个不同的波长。