[发明专利]用于生成生物学试验阵列的方法和点样机装置的用途无效

专利信息
申请号: 200780025371.3 申请日: 2007-07-03
公开(公告)号: CN101484810A 公开(公告)日: 2009-07-15
发明(设计)人: A·派里克;J·F·迪克斯曼;H·R·施塔伯特;R·G·F·A·费尔贝克;A·科列斯尼琴科 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G01N35/10 分类号: G01N35/10
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 王 英
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 用于 生成 生物学 试验 阵列 方法 样机 装置 用途
【权利要求书】:

1、一种用于通过向基质(22,32,52,55)上沉积生物流体的阵列而生成生物学试验阵列(20)的点样机装置(40),所述装置包括:

-至少一个点样头(31,43,44),所述点样头设有至少一个用于向所述基质(22,32,52,55)上沉积生物流体的微滴的主喷嘴(33,45),

-用于相对于所述基质(22,32,52,55)定位所述点样头(31,43,44)的定位机构,

-用于检测通过所述主喷嘴(33,45)进行的所述沉积中的缺陷的检测机构,以及

-连接至所述检测机构和所述定位机构的控制机构,

其中,对于分配给特定生物流体的每个主喷嘴(33,45)而言,所述点样机装置(40)包括至少一个分配给同一种特定流体的副喷嘴(33,46),并且

其中,将所述控制机构编程为,如果通过所述检测机构检测到在通过所述第一喷嘴(33,45)进行的所述沉积中存在预定缺陷,则采用所述副喷嘴(33,46)。

2、根据权利要求1所述的点样机装置(40),其特征在于,所述主喷嘴(33,45)和至少一个副喷嘴(33,46)位于同一点样头(31,43,44)上。

3、根据权利要求1或2所述的点样机装置(40),其特征在于,所述主喷嘴(33,45)和至少一个副喷嘴(33,46)位于不同的点样头(31,43,44)上。

4、根据前述权利要求中的任何一项所述的点样机装置(40),其特征在于,至少一个副喷嘴(33,46)与所述主喷嘴(33,45)位于同一点样头(31,43,44)上,并且至少一个副喷嘴(33,46)位于至少一个不同的点样头(31,43,44)上。

5、根据前述权利要求中的任何一项所述的点样机装置(40),其特征在于,所述点样机装置(40)包括多个点样头(31,43,44)。

6、根据前述权利要求中的任何一项所述的点样机装置(40),其特征在于,所述点样机装置(40)包括多个副喷嘴(33,46)。

7、根据前述权利要求中的任何一项所述的点样机装置(40),其特征在于,所述点样机装置(40)包括集合到一起成为阵列(42,50,51)的多个点样头(31,43,44),其中,所述阵列(42,50,51)包括至少一个用于所要施加的每种不同生物流体的喷嘴(33,45,46)。

8、根据权利要求8所述的点样机装置(40),其特征在于,所述点样机装置(40)包括多个等同的阵列(42,50,51)。

9、根据前述权利要求中的任何一项所述的点样机装置(40),其特征在于,所述检测机构包括光学传感器。

10、根据前述权利要求中的任何一项所述的点样机装置(40),其特征在于,所述检测机构包括声学传感器。

11、根据前述权利要求中的任何一项所述的点样机装置(40),其特征在于,所述检测机构适于测量所述喷嘴(33,45,46)的声学或光学特征,并且其中,将所述控制机构编程为通过比较所述喷嘴(33,45,46)的测量特征和所述喷嘴(33,45,46)的预定特征而进行缺陷(53)判断。

12、根据前述权利要求中的任何一项所述的点样机装置(40),其特征在于,所述检测机构适于测量所述基质(22,32,52,55)的声学或光学特征,并且其中,将所述控制机构编程为通过比较所述基质(22,32,52,55)的测量特征和所述基质(22,32,52,55)的预定特征而进行缺陷(53)判断。

13、根据前述权利要求中的任何一项所述的点样机装置(40),其特征在于,所述检测机构包括用于对所述主喷嘴在所述基质(22,32,52,55)的预定位置上沉积的生物流体(53,54)的量进行确定的量化机构,其中,将所述控制机构编程为使所述副喷嘴(33,46)沉积额外量的同一种生物流体,从而得到与将要在所述基质(22,32,52,55)上沉积的生物流体的预定总量相等的总沉积量。

14、根据前述权利要求中的任何一项所述的点样机装置(40)在生物学试验阵列的生成中的用途,其中,所述生物学试验阵列包括具有沉积于其上的多种生物流体的基质(22,32)。

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