[发明专利]回收来自报废物品的材料的方法

说明书

技术领域

本发明涉及回收来自报废物品的材料的方法。

背景技术

总体上说，已知截至目前，为了尽可能回收报废的制造产品中使用的材料而进行过很大的努力。

但是，在希望进行回收处理的产品的性质复杂并且产品包括多个由不同材料形成的零件的情况下，该问题显得特别难于解决。

电子设备或者甚至汽车尤其是这种情况。

在这两种情况下，回收意味着进行设备拆卸和元件分类，以便将相同材料形成的组成元件汇集在一起。

显然，该工艺只适用于使用廉价劳动力的情况下，并且不适于自动化的工业操作。

为了试图解决这些问题，已经提出破碎这些设备，以便把它们减小成预定尺寸的碎块。然后通过传统的方式例如通过浮选、磁性分拣等对这些碎块进行选择性拣选。但是这些方法不能覆盖整个产品范围。特别是，这些方法不能进行不同类型的塑料材料之间的选择性分拣，或者不能选择包括含有稀有和/或珍贵材料的电子元件的设备碎块。

发明内容

因此，本发明的目的更特别地在于通过一种方法解决该问题，该方法允许回收可能存在于多种物品中的不同材料，而不受所述材料和/或所述物品的性质影响。

根据本发明，该方法包括具有以下阶段的操作序列：

-预备阶段，在该预备阶段进行待回收材料的分类——而这不受被认为存在这些材料的物品的影响，并为每种已分类的材料分配一识别码，所述识别码表示存在至少一个不接触就能远距离检测到的特殊化学标记物，该预备步骤可另外包括采集和存储所述标记物的分光光度识别数据。

-根据所述分类进行的分配，给包含待回收材料的物品、物品部分和/或物品组成件选择性加标记的阶段，该加标记阶段优选在制造物品时或者甚至在物品使用寿命的一后继步骤中实施。

-集中存在于所述物品中的待回收材料的阶段，该阶段包括：

根据所述物品和组成件的性质将所述物品破碎成预定尺寸的颗粒；

远距离检测每个颗粒可能带有的标记物，通过分析标记物识别待回收材料，并提取已经受过检测和识别标记物的颗粒，把它们引导到所述标记物的、因此与该标记物相对应的所述待回收材料的特殊储存区中。

有利地：

-该方法在提取阶段之前可包括按优先顺序为标记物、并因此为待回收材料设置级别，从而当在同一颗粒上检测出多个标记物时，通过考虑级别最高的标记物引导该颗粒；相反地，可通过不接受已识别出某些标记物或者标记物组合的颗粒来进行排除操作；

-标记物可以由这样的化学标记物构成：当这些标记物受到入射光辐射激发时发射出高能辐射，这些高能辐射的频谱可相互区别，并可相对于包含这些标记物的物品和物质区别；

-识别步骤可通过对来自所述破碎的物品、物品颗粒、元件或材料加以分光光度分析进行，从而检测所述参数，特别是检测是否存在标记物，并确定所述颗粒中或颗粒上存在的待回收材料的识别码。

在上面描述的方法中，分光光度分析阶段可包括具有以下步骤的序列：

-利用宽频谱光束照射经过标记的物品或颗粒；

-将物品或颗粒传送或反射的波送到色散元件上，该色散元件使这些波偏斜，以便获得光强度在对应不同波长范围的不同光谱区域的光谱；

-检测每个所述光谱区域内的光强度；

-将所述光强度与一个或多个专门赋予该光谱区域、并已预先存储于储存器的阈值加以比较；

-该比较的结果参与确定待回收材料的识别码。

另外，可利用预先存储于储存器的分光光度识别数据，通过系统确定待分析的光谱区域以及分配给这些光谱区域中每一个的不同参数。该方案可以使结果得到最好的可靠性，并大大减小使用的处理装置的功率。

与分配组合中是否存在标记物相关的、并用于确定识别码的参数尤其可以包括：

-是否存在荧光；和/或

-大于或小于至少一阈值的荧光持续时间；和/或

-在预先建立的波长上波峰的存在或缺少，以及可能地该波峰的幅度和/或宽度；和/或

-与大于或小于一个或多个预定阈值的标记物浓度相对应的发射峰的高度。

为增加可能的组合数，使用不同的标记物浓度(concentration)以得到不同强度的谱线。

另外，为了摆脱所有可能干扰读取和随后的分光光度分析的光学因素，根据在不受标记物存在影响的预定频率范围内检测到的光强度值与预定的设定值之间的差，来控制由光辐射发生器发出的光强度。

当使用多个强度级作为参数时，该测量被证明是必要的。