[发明专利]利用光衍射的自动分析仪无效

专利信息
申请号: 200780026160.1 申请日: 2007-05-09
公开(公告)号: CN101490537A 公开(公告)日: 2009-07-22
发明(设计)人: A·利德曼;R·F·克拉考厄;R·甘斯克;吴华堂;S·图尔莱亚 申请(专利权)人: 马自达公司
主分类号: G01N21/77 分类号: G01N21/77;G01N21/41;G01N35/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 蔡胜利
地址: 加拿大*** 国省代码: 加拿大;CA
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摘要:
搜索关键词: 利用 衍射 自动 分析
【权利要求书】:

1.一种分析仪,其利用光衍射进行化学、生化或生物学测定,包括:

一次性传感器,其包括至少一个样本孔和被结合到所述至少一个样本孔的表面上的分析物特异性受体的至少一个预选分布构型;

至少一个传感器站,用于接收所述一次性传感器;

流体保持型样本容器,用于保持在进行测定时使用的测定流体和被检验存在或不存在结合到所述分析物特异性受体上的分析物的样本;

流体流动和处理系统,其与所述至少一个传感器、所述样本的源和在进行测定时使用的所述测定流体的源流体连通,所述流体流动和处理系统被设置成将所述样本和流体输送到所述一次性传感器上的所述至少一个孔内和所述流体保持型样本容器内,所述流体流动和处理系统包括流体泵装置,所述流体泵装置被设置成将流体和样本从它们各自的源泵送到所述一次性传感器、到所述流体保持型样本容器和到流体废物容器,所述流体流动和处理系统还包括流体分配装置,所述流体分配装置被设置成分配样本和流体到所述流体保持型样本容器中和从所述流体保持型样本容器分配样本和测定流体到所述至少一个传感器;

连接着所述流体保持型样本容器的机器人操纵器,其被设置成相对于所述流体分配装置预定位所述流体保持型样本容器;

温度控制装置,用于控制分析仪内部的温度;

光学系统,用于产生相干光束并指引光束朝向所述至少一个传感器站,以入射到包含有结合在其上的分析物特异性受体的所述至少一个预选分布构型的所述至少一个样本孔的所述表面,所述光学系统包括第一光学检测器,其被设置成测量来自分析物特异性受体的所述至少一个预选分布构型的衍射光信号;

扫描机构,用于相对于包含有结合在其上的分析物特异性受体的所述至少一个预选分布构型的所述至少一个样本孔扫描所述相干光束;以及

微处理器控制装置,其连接着:

被设置成控制所述分析仪内的温度的所述温度控制装置,

被设置成相对于所述流体分配装置预定位所述流体保持型样本容器的所述机器人操纵器,

被设置成控制样本和测定流体流经所述流体控制系统的流动路线的所述流体控制系统,

被设置成控制所述相干光束的参数的所述光学系统,其中所述光学检测器被设置成分析来自分析物特异性受体的所述至少一个预选分布构型的被测量的衍射光信号,以确定分析物在所述样本中存在或不存在,和

被设置成以可控的方式扫描跨越所述表面的所述相干光束的所述扫描机构;并且

所述微处理器控制装置包括使得分析仪和操作者之间能够交互作用的用户界面。

2.根据权利要求1所述的分析仪,其中,所述一次性传感器包括被设置成指引所述相干光束朝向所述至少一个样本孔的所述表面的整体形成的光学元件。

3.根据权利要求1所述的分析仪,其中,所述至少一个传感器站包括传感器接收结构,其与一次性传感器的形状配合部配合,且具有接触表面以接触所述一次性传感器上的相关表面,所述接触表面被设置成提供光学元件在所述至少一个传感器站内在最接近所述光学元件的选定光学表面的位置处的定位,以提供一次性传感器在所述至少一个传感器站内的光学校准,且同时提供传感器接收结构和一次性传感器之间在靠近所述一次性传感器上的所述预选分布构型和所述至少一个样本孔的位置处的热学接触。

4.根据权利要求1、2或3所述的分析仪,其中,所述光学系统被安装在刚性光学支撑结构上,用于产生所述相干光束的相干光源被刚性地安装在所述刚性光学支撑结构,所述光学检测器相对于所述相干光源以固定的方位被刚性地安装在所述刚性光学支撑结构上,并且,所述扫描机构包括被连接到所述刚性光学支撑结构上的电机,用于相对于所述至少一个传感器站移动所述刚性光学支撑结构。

5.根据权利要求4所述的分析仪,其中,所述刚性光学支撑结构是一体式金属光学块组件,具有被机加工在其内的孔,其中第一孔具有被选择为适于保持所述相干光源的尺寸,第二孔具有被选择为适于保持所述第一光学检测器的尺寸,所述相干光源和所述光学检测器与所述一体式金属光学块组件热学接触,以提供所述相干光源和所述光学检测器之间稳定的热学关系。

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