[发明专利]光学测距方法和相应的光学测距装置

权利要求书

1.一种测距方法，该测距方法至少包括以下步骤：

·向目标物(5)发射至少一种光信号，所述光信号为激光；

·检测被所述目标物(5)漫反射的所述光信号(6)；

·推导到所述目标物(5)的距离；

其特征在于，在检测低动态范围和高动态范围时针对同一所述光信 号(6)并行地使用不同的检测方法，其中，所述低动态范围低于用于信 号采样的采样单元(WFD)的饱和极限，而所述高动态范围高于该饱和 极限，并且

-所述高动态范围由阈值方法来检测，而

-所述低动态范围由用于识别漫反射的所述光信号(6)并在时间上 确定该光信号的位置的信号采样来检测。

2.根据权利要求1所述的测距方法，其特征在于，针对多个光信号 (6)累积地实施所述信号采样。

3.根据权利要求1或2所述的测距方法，其特征在于，按脉冲形式 发射所述光信号，并且借助脉冲渡越时间测量方法来实施所述推导。

4.根据权利要求3所述的测距方法，其特征在于，在发射期间，发 射一系列光脉冲(4′)，并且针对各个所述光脉冲(4′)推导至少一距离。

5.根据权利要求1或2所述的测距方法，其特征在于，通过连续调 制而发射所述光信号，并且借助相位测量方法来实施所述推导。

6.根据权利要求1或2所述的测距方法，其特征在于，确定漫反射 的所述光信号(6)的幅值或能量，用于计算所述阈值方法的切换点对漫 反射的所述光信号(6)的幅值或能量的依赖性。

7.根据权利要求1所述的测距方法，其特征在于，在检测低动态范 围和高动态范围时针对同一所述光信号(6)同时使用不同的检测方法。

8.一种电光测距装置，该电光测距装置至少包括：

·光束源(LAS)，该光束源向目标物(5)发射至少一光信号，所 述光信号是激光；

·接收器(APD)，该接收器检测被所述目标物漫反射的光信号(6)， 该接收器包括：

о阈值相关检测单元，和

о采样单元(WFD)，其对所述漫反射的光信号(6)进行采样；

·控制和估算组件，其推导到所述目标物(5)的距离；

其特征在于，所述接收器具有低动态范围和高动态范围，其中，所 述低动态范围低于用于信号采样的采样单元(WFD)的饱和极限，而所 述高动态范围高于该饱和极限，并且由所述阈值相关检测单元来检测所 述低动态范围，而由所述采样单元(WFD)来检测所述高动态范围。

9.根据权利要求8所述的测距装置，其特征在于，按接收功率保持 恒定的方式来控制设置在所述接收器上游的电学或光学衰减器。

10.根据权利要求8所述的测距装置，其特征在于，按接收功率保 持恒定的方式来控制信号源。

11.根据权利要求8、9或10所述的测距装置，其特征在于接收光 学系统和/或放大器级被共同用于所述阈值相关检测单元和所述采样单元 (WFD)。

12.根据权利要求8到10中的任一项所述的测距装置，其特征在于， 所述辐射源(LAS)被设计用于发射连续调制的光信号，并且所述控制 和估算组件被设计为相位测量装置。

13.根据权利要求8到10中的任一项所述的测距装置，其特征在于， 所述辐射源(LAS)被设计用于发射脉冲化的光信号，并且所述控制和 估算组件被设计为渡越时间测量装置。