[发明专利]单粒子翻转测试电路及方法

权利要求书

1.一种执行单粒子翻转测试的方法，包括：

将初始数据样式输入到集成电路器件的扫描链电路中；

在利用时钟信号驱动所述扫描链电路的同时向所述集成电路器件施加 粒子束以生成输出数据样式；以及

基于所述输出数据样式和所述初始数据样式之间的比较来生成单粒子 翻转差错率测试结果，

其中，所述扫描链电路包括串联连接的一连串触发器，所述扫描链电 路的每个触发器具有输入和输出；并且

其中，在利用时钟信号驱动所述扫描链电路的同时向所述集成电路器 件施加粒子束以生成输出数据样式的步骤包括：

在将来自所述扫描链电路内的每个触发器的输出的信号传送到该

触发器的输入中的同时使所述集成电路器件暴露于所述粒子束，每个

触发器被配置为响应于所述时钟信号而存储一个值，所述时钟信号的 源在工作中，

其中，每个触发器的输出连接到第一复用器的输入；

其中，所述第一复用器的输出连接到第二复用器的输入；

其中，所述第二复用器的输出连接到所述触发器的输入；并且

其中，将来自所述扫描链电路内的每个触发器的输出的信号传送到该 触发器的输入中的步骤包括：

配置所述第一复用器以让来自该触发器的输出的信号通过；以及

配置所述第二复用器以让来自所述第一复用器的输出的信号通 过。

2.如权利要求1所述的方法，

其中，所述集成电路器件是在第一代工厂中制作的；

其中，所述方法还包括：

将所述初始数据样式输入到另一集成电路器件的扫描链电路中， 所述另一集成电路器件是在第二代工厂处制作的，每个集成电路器件 具有基本上相同的设计；

在利用时钟信号驱动所述另一集成电路器件的扫描链电路的同时 向所述另一集成电路器件施加粒子束以生成另一输出数据样式；

基于所述另一输出数据样式和所述初始数据样式之间的比较来生 成另一测试结果；以及

选择生产具有较低的单粒子翻转差错率的集成电路器件的代工 厂。

3.一种执行单粒子翻转测试的方法，包括：

将初始数据样式输入到集成电路器件的扫描链电路中；

在利用时钟信号驱动所述扫描链电路的同时向所述集成电路器件施加 粒子束以生成输出数据样式；以及

基于所述输出数据样式和所述初始数据样式之间的比较来生成单粒子 翻转差错率测试结果，

其中，所述扫描链电路包括第一扫描链和第二扫描链，每个扫描链包 括串联连接的一连串触发器，每个扫描链的每个触发器具有输入和输出；

其中，所述集成电路器件还包括多组组合逻辑，每组具有输入和输 出，所述第一扫描链的触发器的输出连接到所述多组组合逻辑的输入，所 述多组组合逻辑的输出连接到所述第二扫描链的触发器的输入；

其中，将初始数据样式输入到集成电路器件的扫描链电路中的步骤包 括：

将输入数据样式读取到所述第一扫描链中；

配置所述第一扫描链的每个触发器以将其输出传送到其输入；以 及

配置所述第二扫描链内的每个触发器以接受所述多组组合逻辑中 的一组的输出作为输入，所述多组组合逻辑的输出形成所述初始数据 样式；并且

其中，在利用时钟信号驱动所述扫描链电路的同时向所述集成电路器 件施加粒子束以生成输出数据样式的步骤包括：

在所述第二扫描链内的每个触发器被配置为接收所述多组组合逻 辑中的一组的输出作为输入的同时使所述集成电路器件暴露于所述粒 子束，但是当存储在所述第二扫描链的一个触发器内的值改变值时， 该触发器被重新配置以将其输出传送到其输入中并防止所述多组组合 逻辑中的任何一组的输出到达该触发器的输入，所述第二扫描链的每 个触发器被配置为响应于所述时钟信号而存储一个值，所述时钟信号 的源在工作中。