[发明专利]检验片状物的传感器和设备以及传感器预校准方法有效
申请号: | 200780028030.1 | 申请日: | 2007-07-24 |
公开(公告)号: | CN101496071A | 公开(公告)日: | 2009-07-29 |
发明(设计)人: | 奥古斯特·霍伊斯勒 | 申请(专利权)人: | 德国捷德有限公司 |
主分类号: | G07D11/00 | 分类号: | G07D11/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 侯 宇 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检验 片状 传感器 设备 以及 校准 方法 | ||
1.一种用于检验片状物的传感器,包括至少两个传感器组件(30、31),其中,所述至少两个传感器组件(30、31)布置在设计用于输送片状物的输送路径的对置侧,其特征为,至少两个彼此对置的传感器组件(30、31)的相对位置通过至少一个对接定位件(5、6、7)这样地确定,使得所述对置的传感器组件(30、31)彼此对齐,其中,至少其中一个所述对接定位件(5、6、7)具有至少两个分件(50、51;50′、51′;60、61;60′、61′;70、71;70′、71′),它们互相接触,在每一个要对齐的传感器组件上设至少一个分件,在对置的传感器组件上为该至少一个分件配设作为配合件的另一分件。
2.按照权利要求1所述的传感器,其特征为,彼此对置的传感器组件(30、31)通过施加的压紧力保持彼此对齐。
3.按照权利要求1或2所述的传感器,其特征为,至少两个彼此对置的传感器组件(30、31)的相对位置通过至少一个对接定位件(5、6、7)这样地确定,使得至少一个从其中一个所述传感器组件(30、31)发出的测量信号,可以被至少一个与该传感器组件对齐的、对置的传感器组件(30、31)检测到。
4.按照权利要求1或2所述的传感器,其特征为,至少两个彼此对置的所述传感器组件(30、31)彼此这样实现对齐,即,使它们构成一个能正常工作的传感器。
5.按照权利要求2所述的传感器,其特征为,所述压紧力通过至少一个气动或液压工作缸和/或通过一个或多个张紧弹簧产生。
6.按照权利要求1或2所述的传感器,其特征为,至少其中一个所述对接定位件(5、6、7)的分件使至少两个彼此对置的所述传感器组件(30、31)接触。
7.按照权利要求1或2所述的传感器,其特征为,至少其中一个所述对接定位件(5、6、7)的分件布置在至少两个彼此对置的所述传感器组件(30、31)的互相面对侧面上。
8.按照权利要求1或2所述的传感器,其特征为,所述对接定位件(5、6、7)的分件设计为,可以使至少两个彼此对置的所述传感器组件(30、31)的相对位置不被重新确定和/或能准确再现。
9.按照权利要求1或2所述的传感器,其特征为,至少两个彼此对置 的传感器组件(30、31)的相对位置通过多个不同的对接定位件(5、6、7)确定。
10.按照权利要求1或2所述的传感器,其特征为,所述至少两个分件(50、51;50′、51′;60、61;60′、61′;70、71;70′、71′)只在预定处接触。
11.按照权利要求1或2所述的传感器,其特征为,至少两个互相接触的分件(50、51;50′、51′;60、61;60′、61′;70、71;70′、71′)通过压紧力保持相互接触。
12.按照权利要求1或2所述的传感器,其特征为,至少其中一个所述互相接触的分件(50、50′、60、60′、70、70′)固定在第一传感器组件(31)上,以及至少另一个所述互相接触的分件(51、51′、61、61′、71、71′)固定在与所述第一传感器组件(31)对置的第二传感器组件(30)上。
13.按照权利要求1或2所述的传感器,其特征为,至少其中一个第一接触分件(50、50′、60、60′、70、70′)在设计用于与其中一个第二接触分件(51、51′、61、61′、71、71′)接触的那一侧具有一向外曲拱的表面。
14.按照权利要求13所述的传感器,其特征为,所述表面呈球状或截平的球状。
15.按照权利要求1或2所述的传感器,其特征为,两个彼此对置的所述传感器组件(30、31)的相对位置通过三个对接定位件(5、6、7)确定。
16.按照权利要求15所述的传感器,其特征为,所述三个对接定位件(5、6、7)的每一个都具有一第一分件,该第一分件在其设计用于与各自的对接定位件(5、6、7)的第二分件的端侧接触的端侧具有一向外曲拱的表面。
17.按照权利要求16所述的传感器,其特征为,所述表面呈球状。
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