[发明专利]半导体发光元件及其制造方法无效
申请号: | 200780028446.3 | 申请日: | 2007-07-13 |
公开(公告)号: | CN101496236A | 公开(公告)日: | 2009-07-29 |
发明(设计)人: | 安杖尚美;菅原岳;长谷川義晃;石桥明彦;横川俊哉 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | H01S5/042 | 分类号: | H01S5/042 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 汪惠民 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 发光 元件 及其 制造 方法 | ||
1.一种半导体发光元件,其特征在于,具备:
含有n型杂质,由碳化硅或氮化物半导体形成的半导体基板;
配置在所述半导体基板主面上的n型半导体层;
配置在所述n型半导体层上的活性层;
配置在所述活性层上的p型半导体层;
与所述p型半导体层接触的p电极;和
与所述半导体基板的所述主面相反侧的面接触的n电极,
所述n电极包含:第一n电极,实质覆盖所述半导体基板的所述主面 相反侧的整个面;和第二n电极,配置在所述第一n电极上,使所述第一 n电极的周边部中的至少一部分露出。
2.根据权利要求1所述的半导体发光元件,其特征在于,
包含所述n型半导体层、所述活性层、所述p型半导体层的叠层构造 的侧面中的一部分,形成共振器端面,
所述第二n电极被配置成使所述第一n电极周边部中的沿所述共振器 端面的部分露出。
3.根据权利要求1所述的半导体发光元件,其特征在于,
所述第一n电极由延展性低于所述第二n电极的材料组成。
4.根据权利要求1所述的半导体发光元件,其特征在于,
所述第一n电极由选自钛(Ti)、白金(Pt)、钼(Mo)和镍(Ni) 组成的群中的至少一种金属或其合金组成,所述第二n电极由选自铝(Al)、 金(Au)、锡(Sn)、铟(In)和镍(Ni)组成的群中的至少一种金属或 其合金组成。
5.根据权利要求1所述的半导体发光元件,其特征在于,
所述半导体基板由氮化镓组成。
6.一种半导体发光元件的制造方法,其特征在于,具备:
在由碳化硅或氮化物半导体组成的半导体基板的主面上,依次形成n 型半导体层、活性层和p型半导体层的工序(a);
在所述p型半导体层上形成与所述p型半导体层接触的p电极的工序 (b);
形成实质覆盖所述半导体基板的所述主面相反侧的整个面的第一n电 极的工序(c);
在所述第一n电极上形成第二n电极的工序(d);和
在所述工序(d)之后,沿劈开方向劈开所述半导体基板、所述n型 半导体层、所述活性层和所述p型半导体层,分割所述第一n电极的工序 (e),
在所述工序(d)中,按照使所述第一n电极中的沿所述劈开方向的 部分露出的方式,形成所述第二n电极。
7.根据权利要求6所述的半导体发光元件的制造方法,其特征在于,
在所述工序(d)中,按照使所述第一n电极呈格子状露出的方式, 形成所述第二n电极。
8.根据权利要求6所述的半导体发光元件的制造方法,其特征在于,
所述第一n电极材料的延展性比所述第二n电极低。
9.根据权利要求6所述的半导体发光元件的制造方法,其特征在于,
所述第一n电极由选自钛(Ti)、白金(Pt)、钼(Mo)和镍(Ni) 组成的群中的至少一种金属或其合金组成,所述第二n电极由选自铝(Al)、 金(Au)、锡(Sn)、铟(In)和镍(Ni)组成的群中的至少一种金属或 其合金组成。
10.根据权利要求6所述的半导体发光元件的制造方法,其特征在于,
所述半导体基板由氮化镓组成。
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