[发明专利]用以确定电子组合件的可行性的方法及其设备

说明书

技术领域

本发明涉及电子组合件的设计，并尤其涉及一个用以确定电子组 合件的可行性的方法及其设备。

背景技术

在本发明看来，电子组合件的可行性的研究在于确定其是否能够 在考虑多个标准例如物理尺寸大小、电学参数、生产期限或者成本的 同时求解一个复杂的方程式。设计电子组合件例如一些电子卡片的装 配通常取决于设计者在先前的开发以及试验分析的基础上的经验。图 1示出包括两个子组合件105-1和105-2的电子系统100，每个子组合 件都具有一个或多个功能(fonction)。如这个例子示出的子组合件 105-1包括3个功能110-1，110-2和110-3。为执行这些功能，电子系 统100可以是，例如，一个飞行控制计算器，包括与子组合件相应的 多个电子卡片，每个电子卡片都有一些电子模块，例如计算单元(中 央处理单元或CPU)和存储模块(随机存取存储器或RAM)。

目前，电子组合件的设计者并不拥有帮助他们评估电子组合件和 组成这个组合件的子组合件的“可行性”的工具。因此，经验的积累不 正规化，原始可行性分析的反应性和迭代的反应性以及结果的可信度 并不能满足现如今程序开发的期待和需要。

为使开发阶段最优化，例如在设计由有各自具有多个电子功能的 多个电子卡片组成的飞行控制计算器时，在电子组合件计划和前期设 计之前的阶段，必须以反作用的并且安全可靠的方式回应。同样希望 能在分级设计时考虑到积累的经验，并在开发过程和电子开发的信息 系统及其数据库中经由一个“简单”功能重新使用和插入积累的经验。

因此为了快更可靠地评估由电子子组合件组成的电子组合件的 物理(简单虚拟原型)可行性，有必要使用先前的程序试验和预测研 究。

发明内容

本发明能够解决至少一个上面阐述的问题。

本发明涉及一种用于分析由至少一个子组合件组成的电子组合 件的可行性的用于计算机的方法，其特征在于包括以下步骤，

-定义电子组合件的功能结构，包括功能表，功能表包括至少一 个功能；

-获得功能的特性；

-确定子组合件的数量；

-将功能表的功能分配给子组合件；

-确定子组合件的特性；和

-分析电子组合件。

因此，根据本发明的方法在于通过对每个子组合件的功能分配的 快速而精确的分析来改善电子组合件的开发过程。该分析在元件和可 再利用功能数据库提供的有效参数的基础上进行。

根据本发明的方法能够利用获得的经验以快速分析一个新的电 子需求的预测的“物理”可行性。本发明还在方法论的进程和电子开 发信息系统中融入可行性的研究。本发明能够增加附加泛函性并且考 虑到由程序试验返回的功能参数的演变，这样就保证了分析指数的精 确和经验积累。

根据实施的一种特殊模式，功能的特性存储在数据库中以便从获 得的经验中获益。

根据一种特殊的实施模式，本方法还包括一个步骤，用于在分析 电子组合件的基础上确定电子组合件能否可靠地向用户提供精确的信 息。分析的结果同样可以在开发阶段使用以使这个电子组合件有效， 而无需用户的系统干预，尤其是在参数改变之后。

根据一种特殊的实施模式，程序包括一个修改功能结构、子组合 件数量、向子组合件分配功能或子组合件特性的步骤，分析电子组合 件的步骤在修改后重复。在这种实施模式下，用户可以改变电子组合 件的参数，在无需重新获得所有因素的情况下分析这个电子组合件的 可行性。

根据一种特殊的实施模式，根据本发明的方法包括一个确定每个 子组合件的连接器的数量的步骤和选择连接器特性的步骤。根据本发 明的方法还可以包括一个修改每个子组合件的连接器的数量和连接器 特性的步骤，分析电子组合件的步骤在该修改步骤后重复。

在一种特殊的实施模式下，功能、连接器和子组合件的特性包括 物理特性、电特性和与生产的期限和成本相关的特性。

根据一种特殊的实施模式，分析电子组合件的步骤包括评估与功 能、连接器和子组合件的特性相关的限制的步骤。

根据一种特殊的实施模式，电子组合件的分析步骤包括比较评估 的限制和用户输入的数据的步骤。

还是根据一种特殊的实施模式，比较评估的限制和用户输入的数 据的步骤包括应用预定的规则，以保证该方法对将来的特殊要求的适 应性和发展可能性。