[发明专利]电解剖标测点到对应的图像数据的配准有效

专利信息
申请号: 200780029311.9 申请日: 2007-08-06
公开(公告)号: CN101501727A 公开(公告)日: 2009-08-05
发明(设计)人: R·陈;R·曼茨克;Z·J·马尔察诺;V·雷迪 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 王 英
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 解剖 标测点到 对应 图像 数据
【权利要求书】:

1.一种对感兴趣体积中的结构进行识别的方法,包括:

-以非门控模式从包括在定位于所述结构内的导管设备中的位置感测元件 连续采集多个非靶标的数据点,其中,每个所采集的数据点都关于所述结 构中的位置,以及随后

-将至少一个所述点配准到所述结构的先前采集的成像数据集。

2.如权利要求1所述的方法,其中,所述配准包括

-通过分割对所述成像数据集进行处理,

-计算3D二元掩模,

-计算距离函数或者反映到所述结构的表面的距离的其他计算度量,

-将所述连续采集的多个点与所述成像数据集进行对准,

-估计配准参数以相对于所述成像数据集对所述多个点进行更新,

-将每个点的位置与来自所述距离函数的对应值相比较,

-根据所述估计的配准参数计算目标函数值,

-通过利用基于共轭梯度的函数最小化对所述配准参数进行迭代更新,直到 所述配准参数的变化小于预定的容差,而将所述目标函数最小化。

3.如权利要求2所述的方法,其中,所述分割包括在图像分析软件中 提供的用于可变形表面的算法、水平集分割方法、或连通分量区域生长。

4.如权利要求1所述的方法,包括

-基于将电解剖标测(EAM)坐标系映射到成像坐标系的已知表变换,将 所述连续采集的多个点进行对准,

-基于所述连续采集的点位置对从所述成像数据集内的对应位置处的图像 强度导出的值进行采样,以消除对分割的需要,

-提供所有点位置处的强度或强度导出值的分布的强度直方图,以及

-基于所述强度直方图执行变换参数估计。

5.如权利要求4所述的方法,包括使用从所述强度直方图导出的标准 差和/或熵在变换参数估计上进行迭代,以便使在所述多个点中的所有点上 采样的体素强度值的相似性最大化。

6.一种对感兴趣体积中的结构进行识别的装置(40),包括

-采集硬件(41),其用于以非门控模式从包括在定位于所述结构内的导管 设备中的位置感测元件连续采集多个非靶标的数据点,其中,每个所采集 的数据点都关于所述结构中的位置,以及

-配准硬件(42),其用于随后将所述数据点中的每一个配准到所述结构的 成像数据集。

7.如权利要求6所述的装置(50),其中,所述配准硬件还包括

-处理硬件(51),其用于通过分割对所述成像数据集进行处理,

-第一计算硬件(52),其用于计算3D二元掩模,

-第二计算硬件(53),其用于计算距离函数或者反映到所述结构的表面的 距离的其他计算度量,

-对准硬件(54),其用于将所述连续所采集的多个点与所述成像数据集进 行对准,

-估计硬件(55),其用于估计配准参数,以相对于所述成像数据集对所述 多个点进行更新,

-比较硬件(56),其用于将每个点的位置与来自所述距离函数的对应值相 比较,

-第三计算硬件(57),其用于根据所述估计的配准参数计算目标函数的值, 以及

-最小化硬件(58),其通过利用基于共轭梯度的函数最小化对所述估计的 配准参数进行迭代更新,直到所述估计的配准参数的变化小于预定的容差, 而将所述目标函数最小化。

8.如权利要求7所述的装置,其中,所述多个点为电解剖标测点,所 述成像数据集为过程前或过程后采集的成像数据集。

9.如权利要求8所述的装置,其中,所述采集硬件还包括配置为使用 超声或电磁进行点位置采集的导管。

10.如权利要求6所述的装置,其中,所述装置为医学工作站。

11.如权利要求6所述的装置,其中,将所述装置配置为执行如权利 要求1所述的方法。

12.一种医学成像系统包括如权利要求6所述的装置。

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