[发明专利]使用同时的并且近似的透射和反向散射成像的X射线检测

权利要求书

1.一种用于检测物体的系统，该系统包括：

a.第一辐射源，其发射穿透性辐射的扇形波束；

b.探测器元件的分段阵列，其用于测量由所述第一辐射源透射过所述 物体的穿透性辐射的强度；

c.第二辐射源，其发射穿透性辐射的扫描笔形波束；

d.至少一个散射探测器，其用于探测由所述物体从所述扫描笔形波束 散射出的穿透性辐射；以及

e.处理器、存储器和显示器，所述存储器包含使所述处理器执行以下 步骤的指令：

从来自所述散射探测器的测量信号中减去背景信号，所述背景信号 是在所述扫描笔形波束暂时关闭时由所述散射探测器测量的，由此形成 修正后的测量散射信号，以及

在所述显示器上显示所述修正后的测量散射信号和来自所述探测 器元件的分段阵列的测量透射信号，以用于检测所述物体。

2.根据权利要求1所述的系统，其中发射所述扇形波束的所述第一辐 射源和发射所述扫描笔形波束的所述第二辐射源是同一辐射源。

3.根据权利要求1所述的系统，其中所述至少一个散射探测器包括用 于使穿透性辐射准直以使得来自所述扫描笔形波束的穿透性辐射被优先探 测的装置。

4.根据权利要求1所述的系统，其中所述至少一个散射探测器包括基 本平坦的表面，该平坦的表面对入射辐射敏感，该平坦表面的特征在于该表 面的法线，其中该表面的法线指向所述扫描笔形波束入射到所述物体的入射 点。

5.根据权利要求4所述的系统，其中所述散射探测器的不同于所述平 坦的表面的至少一个表面被屏蔽，以减少来自所述扇形波束的穿透性辐射的 探测。

6.根据权利要求1所述的系统，还包括置于所述扇形波束和所述至少 一个散射探测器之间的阻挡层，以减少由所述扇形波束引起的来自所述散射 探测器的测量信号。

7.根据权利要求6所述的系统，其中所述阻挡层是平行于所述扇形波 束布置的帘。

8.根据权利要求6所述的系统，其中所述阻挡层是平行于所述扇形波 束布置的摆式屏蔽。

9.根据权利要求6所述的系统，其中所述阻挡层是垂直于所述扇形波 束布置的屏蔽。

10.根据权利要求1所述的系统，其中所述存储器还包括使所述处理器 执行以下步骤的指令：调节测量透射信号和修正后的测量散射信号的纵横比 和尺寸，以使得所述物体的尺寸和形状在该测量透射信号的显示和该修正后 的测量散射信号的显示中看上去相似。

11.根据权利要求1所述的系统，其中所述探测器元件的分段阵列包括 测量第一能量范围中的辐射的第一组元件和测量第二能量范围中的辐射的 第二组元件。

12.根据权利要求11所述的系统，其中所述存储器还包括使所述处理 器执行以下步骤的指令：使用来自所述第一组元件的测量和来自所述第二组 元件的测量来判断所述物体的至少一部分的有效原子序数，以及在所述显示 器上显示所述物体的至少一部分的图像，示出该部分的有效原子序数。

13.根据权利要求1所述的系统，其中所述探测器元件的分段阵列包括 准直仪，其用来减小从所述探测器的分段阵列散射的和入射到所述散射探测 器上的扇形波束穿透性辐射。