[发明专利]用于凸起材料检测的方法与装置有效

专利信息
申请号: 200780030000.4 申请日: 2007-08-16
公开(公告)号: CN101501734A 公开(公告)日: 2009-08-05
发明(设计)人: H·克洛克;A·格雷;C·吉尔麦迪 申请(专利权)人: 德拉鲁国际公司
主分类号: G07D7/12 分类号: G07D7/12
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 李镇江
地址: 英国*** 国省代码: 英国;GB
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摘要:
搜索关键词: 用于 凸起 材料 检测 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种检测文档表面上凸起材料区域的方法,包括:

利用至少一个成角度的辐射束照射文档表面,使得文档表面上任何凸起材料反射该辐射;

利用至少一个辐射检测器成像包含该凸起材料的表面;及

处理该图像,以便检测文档表面上凸起材料的存在;

其中照射使得从凸起材料的至少一个边缘产生反射和/或阴影,而且其中处理步骤利用来自至少一个边缘的所述反射和/或阴影检测凸起材料的位置。

2.如权利要求1所述的方法,其中文档表面至少在照射和成像步骤中基本是平面的。

3.如权利要求1所述的方法,其中凸起材料包括在制造文档以后添加到文档的材料。

4.如权利要求1所述的方法,其中凸起材料包括由除文档制作者之外的一方粘附到文档表面的材料。

5.如权利要求1所述的方法,其中表面是由平面法线定义的,而且其中每个辐射束都定向为关于该平面法线成大角度。

6.如权利要求5所述的方法,其中每个辐射束关于平面法线的角度是80度或者更大。

7.如权利要求1所述的方法,其中每个辐射束在与文档表面法线基本平行的方向是基本准直的。

8.如权利要求7所述的方法,其中所述至少一个成角度的辐射束包括两个或更多个成角度的辐射束。

9.如权利要求8所述的方法,其中辐射束是从基本上沿文档表面的一个或多个侧面的线放置的辐射源提供的。

10.如权利要求8所述的方法,其中辐射束是从围绕文档表面分布放置的辐射源提供的。

11.如权利要求9所述的方法,其中辐射源在基本与文档表面平行的平面中放置。

12.如权利要求1所述的方法,其中文档表面是由平面法线定义的,而且其中每个辐射检测器放置成沿关于该平面法线定义小角度的路径接收辐射。

13.如权利要求12所述的方法,其中该小角度是10度或者更小。

14.如权利要求1所述的方法,其中至少一个辐射检测器在文档上与凸起材料相对的一侧,使得所检测的辐射在接收之前透射通过文档。

15.如权利要求1所述的方法,其中提供辐射检测器并定位成检测从文档表面镜面反射的光,而且其中处理图像的步骤包括搜索图像中具有平行线的框。

16.如权利要求1所述的方法,其中提供了两个辐射检测器,其中一个定位成检测从文档表面镜面反射的光,而另一个定位成检测从文档表面漫反射的光。

17.如权利要求15所述的方法,还包括利用镜面反射获得图像和利用漫反射获得图像。

18.如权利要求1所述的方法,还包括同时和/或随后沿文档平面的法线或与之成小角度地利用辐射束照射文档,从而获得文档的明场图像。

19.如权利要求18所述的方法,其中明场图像在处理步骤中使用。

20.如权利要求1所述的方法,其中处理图像的步骤还包括:

利用边缘过滤器对图像进行过滤;

识别所过滤图像中的直线候选;

比较所识别的候选和要检测的凸起材料的模型;及

基于所述比较确定凸起材料的位置。

21.如权利要求20所述的方法,其中模型包括代表干净或真实文档的数据。

22.如权利要求20所述的方法,其中处理图像的步骤还包括:

通过比较镜面反射和漫反射的图像来识别候选区域;

利用边缘过滤器过滤所述镜面反射图像和/或漫反射图像;

识别所过滤图像中的直线候选;

比较所识别的候选和要检测的凸起材料的模型;及

基于所述比较确定凸起材料的位置。

23.如权利要求22所述的方法,其中所述识别所过滤图像中的直线候选还包括排除预定义模板中出现的候选。

24.如权利要求20所述的方法,还包括在识别步骤之后,将所识别的候选分成代表关于背景有增大强度的正候选和代表关于背景有减小强度的负候选。

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