[发明专利]用于通过单视角背照射逆光照相法不接触式测量具有两层的三维物体的方法

权利要求书

1.一种用于不接触式测量具有内壁(18)的中空三维物体(8，32，46，54，56)的方法，所述物体包括外层(12)和内层(10)，所述物体对可见光是半透明的或者透明的，所述方法的特征在于，

通过单视角背照射逆光照相法，沿着第一观察轴(34)，通过用可见光观察所述物体，获取所述物体的图像，所述图像包括至少一条发光线，

建立将所述物体的至少一个光学几何参数和所述发光线的至少一个几何参数联系起来的方程式，

确定所述发光线的所述几何参数，以及

借助于所述方程式和由此确定的几何参数来确定所述光学几何参数，

其中，

从上述物体的图像和所述方程式，进行所述物体的内壁(18)在靠近所述物体的赤道的区域上的三维重显，所述重显提供第一组数据，

确定所述物体的所述内层(10)的厚度，

从由此确定的厚度确定与所述内层的变形相关的第二组数据，以及

借助于所述第一组数据和第二组数据进行所述物体的整个内壁(18)的重显。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，建立在所述发光线的变形和出现在所述物体的所述内壁(18)上的干扰之间的线性关系，以便确定所述第二组数据。

3.根据权利要求1和2中任一项所述的方法，其中，所述物体的内层(18)的厚度通过干涉测量技术确定。

4.根据权利要求1和2中任一项所述的方法，其中，通过沿着不与所述第一观察轴(34)平行的第二观察轴进行的逆光照相法测量来确定所述物体的内层(18)的厚度。

5.根据权利要求1和2中任一项所述的方法，其中，在已经进行所述物体的旋转之后通过沿着所述第一观察轴(34)进行的逆光照相法测量来确定所述物体的内层(18)的厚度。

6.根据权利要求1和2中任一项所述的方法，其中，借助于最小二乘法通过将所述第一组数据和所述第二组数据组合而进行所述物体的整个内壁(18)的重显。

7.根据权利要求3所述的方法，其中，借助于最小二乘法通过将所述第一组数据和所述第二组数据组合而进行所述物体的整个内壁(18)的重显。

8.根据权利要求4所述的方法，其中，借助于最小二乘法通过将所述第一组数据和所述第二组数据组合而进行所述物体的整个内壁(18)的重显。

9.根据权利要求5所述的方法，其中，借助于最小二乘法通过将所述第一组数据和所述第二组数据组合而进行所述物体的整个内壁(18)的重显。

10.一种用于不接触式测量具有内壁(18)的中空三维物体(8，32，46，54，56)的方法，所述物体包括外层(12)和内层(10)，所述物体对可见光是半透明的或者透明的，所述方法的特征在于，

通过单视角背照射逆光照相法，沿着第一观察轴(34)，通过用可见光观察所述物体，获取所述物体的图像，所述图像包括至少一条发光线，

建立将上述物体的至少一个光学几何参数和所述发光线的至少一个几何参数联系起来的方程式，

确定所述发光线的所述几何参数，以及

借助于所述方程式和由此确定的几何参数来确定所述光学几何参数，

其中，从分别由所述内层的厚度和所述外层的厚度构成的两个几何参数来确定分别由所述内层(10)的折射率和所述外层(12)的折射率构成的两个光学几何参数。