[发明专利]A/D变换器无效
申请号: | 200780032322.2 | 申请日: | 2007-08-10 |
公开(公告)号: | CN101517896A | 公开(公告)日: | 2009-08-26 |
发明(设计)人: | 重森雅和;须志原公治;村田健治 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | H03M1/08 | 分类号: | H03M1/08 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 许海兰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 变换器 | ||
技术领域
本发明涉及A/D变换器,特别涉及具有并联型的结构的A/D变 换器。
背景技术
以下,对以往的并联型A/D变换器进行说明。
图7是示出以往的并联型A/D变换器(例如专利文献1的图1 所示)700的图,该A/D变换器700包括比较电路111、编码电路112、 以及时钟缓冲器122。
在上述专利文献1中的“实施方式1”中说明了上述以往的并联型 A/D变换器700的动作,其如下所述。
即,向上述时钟缓冲器122,输入外部输入时钟信号CKIN,该 时钟缓冲器122向上述比较电路111、以及上述编码电路112,供给 与上述外部输入时钟信号CKIN同步的内部时钟203。
图8示出接收到上述外部输入时钟信号CKIN而动作的上述比较 电路111、以及上述编码电路112的时序图。
在上述外部输入时钟信号CKIN的第一规定电平V1的第一期间 T1,上述比较电路111进行比较动作,上述编码电路112进行复位动 作,在上述外部输入时钟信号CKIN的第二规定电平V2的第二期间 T2,上述比较电路111进行复位动作,上述编码电路112进行编码动 作,这样,以往的A/D变换器700的动作依赖于上述外部输入时钟信 号CKIN的占空比。
专利文献1:日本特开2003-158456号公报
但是,伴随近年来的A/D变换器所要求的动作频率的高速化, 由于比较电路111、以及编码电路112的动作期间依赖于外部输入时 钟信号CKIN的占空比,所以有时无法取得充分的动作期间,因此, 难以维持变换精度。
发明内容
本发明是为了解决上述以往的课题而完成的,其目的在于提供一 种A/D变换器,不依赖于上述外部输入时钟的占空比的变动,而可以 确保上述比较电路以及上述编码电路中所需的动作期间,可以维持 A/D变换精度。
为了解决上述课题,本发明的第一方面提供一种A/D变换器, 其特征在于,具备:比较电路,在第一时钟的第一规定电平的期间, 对模拟输入信号进行比较,在上述第一时钟的第二规定电平的期间, 保持比较结果;编码电路,在上述第一时钟的第一规定电平的期间, 复位,在上述第一时钟的第二规定电平的期间,对上述比较结果进行 编码;动作期间检测电路,按照外部输入时钟动作,输出检测到该 A/D变换器的动作期间的动作期间检测信号;以及合成电路,将上述 外部输入时钟与作为上述动作期间检测电路的输出的上述动作期间 检测信号设为输入,生成上述第一时钟,上述第一时钟的第一规定电 平的期间是上述外部输入时钟的第一规定电平的期间以上的期间。
本发明的第二方面的A/D变换器在第一方面的A/D变换器中, 其特征在于,上述动作期间检测电路包括与构成该A/D变换器的任意 一个电路的结构相同的电路。
本发明的第三方面的A/D变换器在第二方面的A/D变换器中, 其特征在于,上述动作期间检测电路包括与构成该A/D变换器的比较 电路的结构相同的电路。
本发明的第四方面的A/D变换器在第二方面的A/D变换器中, 其特征在于,上述动作期间检测电路包括与构成该A/D变换器的编码 电路的结构相同的电路。
本发明的A/D变换器除了比较电路和编码电路以外,还设置: 动作期间检测电路,按照外部输入时钟动作,输出检测到该A/D变换 器的动作期间的动作期间检测信号;以及合成电路,将上述外部输入 时钟与作为上述动作期间检测电路的输出的上述动作期间检测信号 设为输入,生成上述第一时钟,从而不依赖于上述外部输入时钟的占 空比的变动,而可以生成并输出充分确保了上述比较电路和上述编码 电路的动作期间的上述第一时钟,可以维持A/D变换精度。
附图说明
图1是本发明的实施方式1的A/D变换器1000的结构图。
图2是示出上述实施方式1中的合成电路120的结构图。
图3是上述实施方式1的A/D变换器1000中的动作期间检测电 路121的结构图。
图4是上述实施方式1的A/D变换器1000的动作时序图。
图5(a)是本发明的实施方式2的A/D变换器2000的结构图。
图5(b)是实施方式2的A/D变换器2000中的动作期间检测电 路521的结构图。
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