[发明专利]互连结构中的碳纳米结构生长的控制无效

专利信息
申请号: 200780032667.8 申请日: 2007-08-29
公开(公告)号: CN101573797A 公开(公告)日: 2009-11-04
发明(设计)人: 洛朗·戈塞;华金·托里斯 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司;ST微电子(克罗莱斯2)股份有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L21/768
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 代理人: 陈 源;张天舒
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 互连 结构 中的 纳米 生长 控制
【权利要求书】:

1.一种衬底上的互连结构(100),所述互连结构(100)具有在衬底层上或在衬底层上方的至少两个互连层(104,107)上的导电互连元件(102,140),其中

至少一个导电通孔材料(136)将一个互连层(104)上或衬底层上的第一互连元件(102)连接至不同互连层(107)上的第二互连元件(140),所述导电通孔材料(136)在第一电介质层(110)的通孔开口(112)中延伸,所述导电通孔材料(136)包含导电的圆柱形碳纳米结构(138),以及其中

至少一个覆盖层段(132.1,132.2)伸入通孔开口(112)并且在通孔开口(112)处横向延伸,以限定通孔窗口(d),该通孔窗口小到能防止所述碳纳米结构穿过通孔窗口(d)。

2.如权利要求1所述的互连结构(100),其中所述通孔窗口(d)小于或等于导电通孔材料(136)中的圆柱形碳纳米结构(138)的外径的二倍。

3.如权利要求1所述的互连结构(100),其中所述通孔窗口(d)小于或等于导电通孔材料(136)中的圆柱形碳纳米结构(138)的外径。

4.如权利要求1所述的互连结构,其中在所述通孔开口(112)的第一末端布置了至少一个覆盖层段(132.1,132.2),所述通孔开口(112)的第一末端比第二末端离衬底远。

5.如权利要求1所述的互连结构,其中在通孔开口(112)中的导电通孔材料(136)位于催化层(116)上,所述催化层适于支持碳纳米结构(138)的生长。

6.如权利要求1所述的互连结构,其中所述覆盖层段(132.1,132.2)由电介质材料制成。

7.如权利要求1所述的互连结构,其中所述覆盖层段被布置在电介质衬里(211)上,其中所述电介质衬里(211)布置在第二互连元件(240)和通孔开口外的第一电介质层(210)之间。

8.如权利要求1所述的互连结构(200),其中覆盖层段(232)覆盖了通孔开口的侧壁(228,230)的上部,并且横向邻接电介质衬里(211),所述电介质衬里(211)被布置在第二互连元件(240)和通孔开口外的第一电介质层(210)之间。

9.如权利要求1所述的互连结构(200),其中所述覆盖层段(232)形成了覆盖层(222)的一部分,所述覆盖层(222)覆盖了第一电介质层(210)中的第一互连开口(208)的下表面(214),所述第一互连开口被第二互连元件(240)填充。

10.如权利要求1所述的互连结构,其中所述导电通孔材料(136)包括碳纳米结构,该碳纳米结构为碳纳米管(138)或碳纳米线(138),所述碳纳米管(138)或碳纳米线(138)的纵轴的定向为从第一互连元件(102)指向第二互连元件(140)的高度方向(h)。

11.一种制造互连结构的方法,该互连结构具有将一个互连层(104)上或衬底层上的导电的第一互连元件(102)和不同互连层(107)上的第二互连元件(140)连接起来的导电通孔材料(136),该方法包括以下步骤:

提供衬底,该衬底具有在一个互连层(104)或衬底层上的第一互连元件(102);

在第一互连元件上沉积第一电介质层(110);

在所述第一电介质层(110)中制造到达第一互连元件(102)的通孔开口(112);

在第一电介质层上制造覆盖层段(132.1,132.2),所述覆盖层段伸入通孔开口(112)并且在通孔开口(112)处横向延伸,以限定通孔窗口(d);

在通孔开口(112)中制造导电通孔材料(136),该导电通孔材料(136)包含导电的圆柱形碳纳米结构(138);以及

制造与导电通孔材料(136)接触的第二互连元件(140);其中

所述通孔窗口(d)被制造的小到能防止碳纳米结构(138)穿过所述通孔窗口(d)。

12.如权利要求11所述的方法,该方法包括:在通孔开口(112)中制造导电通孔材料(136)的步骤之前,在通孔开口(112)的下表面(118)上制造催化层(116)的步骤,所述催化层(116)适于支持碳纳米结构(138)的生长。

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