[发明专利]天线特性测定装置及天线特性测定方法

说明书

技术领域

本发明涉及在例如测定移动电话等中使用的小型天线的天线特性时 采用的适当的天线特性测定装置和天线特性测定方法。

背景技术

一般，已知有采用电波消声箱来测定无线设备的天线功率的测定方法 (例如参照专利文献1)。并且，在基于专利文献1的测定方法中，将特性 已知的电波消声箱的场衰减量(site attenuation)和实际测定中采用的电波 消声箱的场衰减量之间的差作为该电波消声箱的场地因子(site factor)来 导入天线功率的求值式的修正项。由此，现有技术中，采用小型电波消声 箱来简单地测定无线设备的天线功率。

专利文献1：JP特开2003-75489号公报

发明内容

但是，基于现有技术的测定方法中，必须预先测定电波消声箱的场衰 减量来确定场地因子。此时，场衰减量成为各电波消声箱中固有的值。因 此，在使用新的电波消声箱时，必须测定该场衰减量，存在不能直接使用 新的电波消声箱的问题。此外，现有技术中，必须在进行实际的测定之后 进行修正项的运算处理，未必是能够简单测定天线特性的技术。

本发明鉴于上述现有技术的问题而产生，本发明的目的在于提供一种 能够采用小型的电波消声箱来测定天线特性，而不进行修正等运算处理的 天线特性测定装置和天线特性测定方法。

为了解决上述课题，本发明提供一种天线特性测定装置，该天线特性 测定装置包括：电波消声箱，其在内部设置电波吸收体；被测定天线，其 成为设置在该电波消声箱内的测定对象；以及测定天线，其与该被测定天 线相对置并设置在上述电波消声箱内，测定该被测定天线的天线特性，在 该天线特性测定装置中，设上述被测定天线的开口尺寸为D，上述测定天 线的开口尺寸为d，测定频率的波长为λ时，上述被测定天线和测定天线 之间的距离尺寸L被设定在满足如下关系的范围中，

(D+d)22λ≤L≤2(D+d)2λ.]]>

此外，本发明提供一种天线特性测定方法，在内部设置了电波吸收体 的电波消声箱内相对置地设置被测定天线和测定天线，采用该测定天线来 测定上述被测定天线的天线特性，在该天线特性测定方法中，构成为包括 如下步骤：设上述被测定天线的开口尺寸为D，上述测定天线的开口尺寸 为d，测定频率的波长为λ时，上述被测定天线和测定天线之间的距离尺 寸L被设定在满足如下关系的范围中，

(D+d)22λ≤L≤2(D+d)2λ]]>；和

在该步骤后，采用上述测定天线测定来自上述被测定天线的电磁波。

通过这样的结构，在测定天线和被测定天线之间的距离较近的菲涅尔 (Frenel)区域中，能够测定与两者距离远离之后的夫琅禾费(Fraunhofer) 区域相同的天线特性。