[发明专利]用于监视介质状况的方法与设备

权利要求书

1.一种用于根据光的发送/发射来监视通道(33)中介质(50) 的状况的方法，其中

-光被引导通过由测量头(12)中的测量间隙(13.1)定义的介 质层，其中测量头(12)是从通道(33)的壁(30)中的开口(31) 推入的，

-测量通过介质层的光的强度或者与强度成比例的变量，及

-从强度的变化评估介质(50)的状况，

而且其中光是由光纤装置(18、18.1、18.2)引导到测量间隙(13.1) 并离开测量间隙(13.1)的，所述方法的特征在于，为测量所提供的 传感器(10)位于通道(33)外面并与通道(33)相邻，并且测量头 (12)延伸到通道(33)中，所述测量包括用于评估介质(50)的状 况的数值分析，

其中，所述介质(50)为油。

2.如权利要求1所述的方法，特征在于所述测量是利用两个不 同的测量间隙(13.1、13.2)执行的，因此测量两个强度，在这种情况 下介质(50)的状况是利用使用这些强度的所选数值分析方法来监视 的。

3.如权利要求2所述的方法，特征在于测量是利用在物理隔开 的测量间隙(13.1、13.2)中彼此有一定距离的两个不同光束进行的。

4.如权利要求1-3中任何一项所述的方法，特征在于至少一个 测量是针对反射光束的表面(22.1、22.2)进行的，以便将检测器(17.1、 17.2)定位到所测量的介质层的与光源(16)相同的一侧。

5.如权利要求2所述的方法，特征在于在测量中使用公共光源 (16)，由该光源产生的光在两个测量之间分配。

6.如权利要求1所述的方法，特征在于除了发送/发射测量，还 测量介质(50)的介电性和/或电阻率。

7.如权利要求3所述的方法，特征在于测量间隙(13.1、13.2) 的距离之比是1∶1.5±50％。

8.如权利要求1所述的方法，特征在于光束的质量是利用透镜 系统(52)来均衡的，以便使传感器(10)的测量结果可以独立于光 纤装置(18、18.1、18.2)比较。

9.如权利要求1所述的方法，特征在于当介质(50)的属性变 化时，馈送到光源(16)的电流幅值增加。

10.如权利要求1所述的方法，特征在于光的波长在300nm- 600nm的范围内。

11.如权利要求10所述的方法，特征在于光的波长在400nm- 500nm的范围内。