[发明专利]C-平面蓝宝石方法和设备有效
申请号: | 200780035269.1 | 申请日: | 2007-09-21 |
公开(公告)号: | CN101522961A | 公开(公告)日: | 2009-09-02 |
发明(设计)人: | V·塔塔拉切科;C·D·琼斯;S·A·扎内拉;J·W·洛切;F·普拉纳迪 | 申请(专利权)人: | 圣戈本陶瓷及塑料股份有限公司 |
主分类号: | C30B15/34 | 分类号: | C30B15/34;C30B29/20 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 韦 东 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 平面 蓝宝石 方法 设备 | ||
1.一种单晶生长设备,其包括:
熔体源;
与所述熔体源相邻的模头;
具有第一热梯度的第一区域,所述第一区域设置在与模头开口相邻的 位置;
具有第二热梯度的第二区域,所述第二区域设置在与所述第一区域相 邻并且远离所述模头的位置,所述第二热梯度小于所述第一热梯度。
2.如权利要求1所述的设备,其特征在于,所述第二区域被主动地加 热。
3.如权利要求2所述的设备,其特征在于,所述设备包括后加热器, 该后加热器包括感应耦合的加热元件或电阻加热元件。
4.如权利要求1所述的设备,其特征在于,所述第一热梯度的数值至 少为第二热梯度的两倍。
5.如权利要求1所述的设备,其特征在于,所述第一热梯度大于10℃/ 厘米,所述第二热梯度小于5℃/厘米。
6.如权利要求1所述的设备,其特征在于,所述第一热梯度大于15℃/ 厘米,所述第二热梯度小于3℃/厘米。
7.如权利要求1所述的设备,其特征在于,所述第一热梯度沿晶体生 长路径延伸至少1厘米的距离。
8.如权利要求1所述的设备,其特征在于,所述第一热梯度沿晶体生 长路径延伸至少2厘米的距离。
9.如权利要求1所述的设备,其特征在于,所述第一热梯度沿晶体生 长路径延伸至少3厘米的距离。
10.如权利要求1所述的设备,其特征在于,所述第一热梯度沿晶体生 长路径延伸小于10厘米的距离。
11.如权利要求1所述的设备,其特征在于,所述第二热梯度沿晶体生 长路径延伸至少1厘米的距离。
12.如权利要求1所述的设备,其特征在于,所述第二热梯度沿晶体生 长路径延伸至少2厘米的距离。
13.如权利要求1所述的设备,其特征在于,所述第二热梯度沿晶体生 长路径延伸至少3厘米的距离。
14.如权利要求1所述的设备,其特征在于,所述第二热梯度沿晶体生 长路径延伸大于或等于10厘米的距离。
15.如权利要求1所述的设备,其特征在于,所述模头开口的宽度大于 或等于5厘米。
16.如权利要求1所述的设备,其特征在于,所述模头开口的宽度大于 或等于10厘米。
17.如权利要求1所述的设备,其特征在于,其包括第三区域,该第三 区域位于第二区域的下游,远离熔体源,该第三区域具有大于第二热梯度 的第三热梯度。
18.如权利要求1所述的设备,其特征在于,所述单晶生长设备是能够 制得位错密度小于1000个位错/厘米2的C-平面单晶蓝宝石的单晶蓝宝石生 长设备。
19.如权利要求18所述的设备,其特征在于,该设备还包括位于第二 区域下游的第三区域,所述第三区域的热梯度大于第二区域的热梯度。
20.如权利要求18所述的设备,其特征在于,所述第一区域的中心部 分的温度高于1850℃。
21.如权利要求18所述的设备,其特征在于,所述第二区域的中心部 分的温度高于1850℃。
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