[发明专利]制造校准的分析物传感器的方法

权利要求书

1.一种制造多个被校准调整的传感器的方法，包含：

(a)提供多个工作电极，多个对电极，和多个样品室，每个样品 室中具有至少一个工作电极和至少一个对电极；

(b)分离出具有斜率和y截距的第一传感器，并将所述斜率和y 截距与期望的斜率和y截距进行比较；和

(c)在分离出第一传感器之后，物理修改第二传感器的样品室的 尺寸，第二传感器具有所述期望的斜率和y截距，其中所述第二传感 器的样品室的物理修改是通过第一传感器的斜率和y截距与期望的 斜率和y截距的比较而指导的。

2.如权利要求1所述的方法，其中第二传感器与第一传感器物理 上不同。

3.如权利要求1所述的方法，进一步包含：

(d)在分离出第一传感器之后，物理修改第三传感器的样品室的 尺寸，第三传感器具有所述期望的斜率和y截距，其中第三传感器的 样品室的物理修改是通过第一传感器的斜率和y截距与期望的斜率 和y截距的比较而指导的。

4.如权利要求3所述的方法，其中第三传感器与第一传感器物理 上不同。

5.如权利要求3所述的方法，进一步包含：

(e)在第一传感器之后分离出至少100个传感器，所述至少100 个传感器具有所述期望的斜率和y截距。

6.如权利要求1所述的方法，进一步包含：

(a)提供第一基片并在其上提供多个工作电极；

(b)在第一基片之上提供隔离层；和

(c)利用第二基片覆盖所述隔离层。

7.如权利要求1所述的方法，其中所述传感器是尖端填充传感器、 侧面填充传感器、拐角填充传感器、或顶端填充传感器。

8.如权利要求1所述的方法，其中第二传感器与第一传感器的不 同之处在于所述样品室的容积。

9.如权利要求1所述的方法，其中第二传感器与第一传感器的不 同之处在于所述样品室中的电极面积。

10.如权利要求1所述的方法，其中第一传感器的斜率和y截距 不同于所述期望的斜率和y截距。

11.如权利要求4所述的方法，其中第三传感器与第一传感器物 理上的不同之处在于电极面积。

12.如权利要求4所述的方法，其中第三传感器与第一传感器物 理上的不同之处在于样品室容积。

13.如权利要求1到12中的任何一个所述的方法，其中传感器 的分离包括冲压。

14.如权利要求13所述的方法，其中传感器包括用于检测葡萄 糖的化学物质。

15.如权利要求13所述的方法，其中传感器包括用于检测酮的 化学物质。

16.如权利要求13所述的方法，其中工作电极和对电极在样品 室中是共面的。

17.如权利要求13所述的方法，其中工作电极和对电极在样品 室中处于对向的配置中。