[发明专利]用于进行时间测量的EEPROM电荷保持电路无效
| 申请号： | 200780036005.8 | 申请日： | 2007-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN101601096A | 公开（公告）日： | 2009-12-09 |
| 发明（设计）人： | 弗兰西斯科·拉·罗萨 | 申请（专利权）人： | 意法半导体有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/04 | 分类号： | G11C16/04;G11C16/26;G11C16/22 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 | 代理人： | 韩 龙;阎娬斌 |
| 地址： | 法国*** | 国省代码： | 法国;FR |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 进行 时间 测量 eeprom 电荷 保持 电路 | ||
1.一种用于时间测量的电荷保持电子电路，被嵌入到EEPROM型存储器单元网络中，在相同的存储单元行中，每个单元都包括与浮栅晶体管串联的选择晶体管，包括：
至少一个第一单元(C1)的第一子集，其浮栅晶体管的隧道窗口的电介质(112)的厚度比其他单元的薄；
至少一个第二单元(C2)的第二子集，其浮栅晶体管的漏极和源极互连；
至少一个第三单元(7)的第三子集；以及
至少一个第四单元(6)的第四子集，其隧道窗口被去除，这四个子集的单元的晶体管的相应浮动栅极被互连。
2.如权利要求1所述的电路，其中单元的位线(BL1，BL2，BL3，BL4)可通过子集来寻址。
3.如权利要求1或2所述的电路，其中四个子集的单元的选择晶体管(T1，T2，T3，T4)的控制端子被互连到向电路施加选择信号(SEL)的端子上。
4.如权利要求1到3中任一个所述的电路，其中第一子集的单元(C1)数目决定了电荷损失速率。
5.如权利要求1到4中任一个所述的电路，其中第二子集的单元(C2)数目决定了保持时间。
6.如权利要求1到5中任一个所述的电路，其中第三子集的单元(7)的数目决定了复位或编程速率。
7.如权利要求1到6中任一个所述的电路，其中第四子集的单元数目决定了测量电流。
8.一种用于控制权利要求1到7任何一个所述的电路的方法，其中将编程或者复位电压施加在第三子集的位线上。
9.根据权利要求8所述的方法，其中读取电压施加在第四子集的位线上，而所有的其他位线处于高阻态，从而使用与浮动节点(F)上的残留电荷成比例的数据。
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