[发明专利]用于进行时间测量的电荷保持电路有效

专利信息
申请号: 200780036057.5 申请日: 2007-07-20
公开(公告)号: CN101601097A 公开(公告)日: 2009-12-09
发明(设计)人: 弗兰西斯科·拉·罗萨 申请(专利权)人: 意法半导体有限公司
主分类号: G11C27/02 分类号: G11C27/02
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 代理人: 韩 龙;阎娬斌
地址: 法国*** 国省代码: 法国;FR
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摘要:
搜索关键词: 用于 进行 时间 测量 电荷 保持 电路
【权利要求书】:

1.一种用于进行时间测量的电荷保持电子电路,包括:

至少一个第一电容元件(C1),其第一电极(21)连接到浮动 节点(F);

至少一个第二电容元件(C2),其第一电极(31)连接到所述 浮动节点(F),第一电容元件经由其电介质隔片(23)来显示漏电 量;以及

至少一个第一晶体管(5,6),具有连接到所述浮动节点的绝缘 控制端子。

2.根据权利要求1所述的电路,其中第二电容元件具有比第一电 容元件更大的电荷保持电容。

3.根据权利要求1或2所述的电路,其中通过基于第一晶体管 (5,6)中的电流(I14)评估浮动节点(F)的残留电荷,来获得时 间数据的测量。

4.根据权利要求1到3中任一个所述的电路,其中第二电容元件 (C2)电介质隔片的厚度大于第一电容元件(C1)的电介质隔片的 厚度。

5.根据权利要求1到4中任一个所述的电路,其中至少一个第三 电容元件(C3,7)的第一电极(41)连接到所述浮动节点(F), 并且第二个电极(42)连接到电压源。

6.根据权利要求5所述的电路,其中,通过经由该第三电容元件 (C3,7)向浮动节点(F)中注入电荷或从浮动节点中提取电荷来 获得复位或编程。

7.根据权利要求5或6中任一个所述的电路,其中第三电容元件 (C3,7)电介质隔片的厚度大于第一电容元件(C1)的厚度。

8.根据权利要求5到7中任一个所述的电路,其中所述第三电容 元件(C3)由浮动栅极与双栅晶体管(7)的活动区之间的电介质构 成。

9.根据权利要求1到8中任一个所述的电路,其中所述第一晶体 管(6)是浮栅晶体管。

10.根据权利要求9所述的电路,其中浮动栅极与第一晶体管 (6)的活动区之间的电介质隔片的厚度大于第三电容元件(C3, 7)的电介质隔片的厚度。

11.根据权利要求1到10中任一个所述的电路,其中第二元件 (C2)的电容决定了保持时间。

12.一种用于控制权利要求1到11所述的电荷保持电路的方法,其 中通过向浮动节点(F)注入电荷或者从浮动节点(F)中提取电荷 而获得编程或初始化。

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