[发明专利]有机发光二极管亮度退化补偿有效
申请号: | 200780037286.9 | 申请日: | 2007-08-15 |
公开(公告)号: | CN101523470A | 公开(公告)日: | 2009-09-02 |
发明(设计)人: | 阿罗基亚·内森;G·R·查吉 | 申请(专利权)人: | 伊格尼斯创新有限公司 |
主分类号: | G09G3/20 | 分类号: | G09G3/20;G09G3/32 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 李晓舒 |
地址: | 加拿大*** | 国省代码: | 加拿大;CA |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 有机 发光二极管 亮度 退化 补偿 | ||
技术领域
本发明涉及OLED显示器,更具体而言,涉及基于OLED电容对OLED的亮度退化进行的补偿。
背景技术
众所周知,有机发光二极管(“OLED”)用在显示器中有许多理想特性。例如,它们可产生明亮的显示,它们可制造在柔性衬底上,它们的功率需求低,并且它们不需要背光。OLED可被制造成发出不同颜色的光。这使得它们可用在全色显示器中。而且,它们的尺寸很小,这使得它们可用在高分辨率显示器中。
目前,在显示器中使用OLED尤其要受到OLED的寿命的限制。随着OLED显示器的使用,显示器的亮度会降低。为了制造出能够在一段时间内(例如,大于1000小时)反复生成同等质量的显示输出的显示器,有必要对这种亮度退化进行补偿。
确定亮度退化的一种方法是直接测量亮度退化。该方法测量在给定驱动电流的情况下像素的亮度。该技术需要每个像素的一部分都被亮度检测器所覆盖。这导致开口(aperture)和分辨率较低。
另一种技术是基于施加到像素上的累积驱动电流来预测亮度退化。此技术的问题在于,如果关于累积驱动电流的信息(例如因为电源故障)丢失或被破坏,就不能执行亮度校正。
因此,需要一种不会导致开口率、成品率(yield)或分辨率降低并且不依赖于关于OLED的以往操作的信息来补偿退化的用来确定OLED亮度退化的方法和相关系统。
发明内容
在一个实施例中,提供了一种补偿像素亮度退化的方法。该方法包括:确定像素的电容,以及将所确定的像素的电容与像素的电流校正因数关联起来。
在另一个实施例中,提供了一种使用已对像素的亮度退化进行补偿后的电流来驱动像素的方法。该方法包括:确定像素的电容,将所确定的像素的电容与像素的电流校正因数关联起来,根据电流校正因数补偿像素驱动电流,和用补偿后的电流来驱动像素。
在又一个实施例中,提供了一种在确定多个像素电路的像素电容时所使用的读取模块。这些像素电路以阵列的形式排列,从而形成显示器。读取模块包括多个读取模块元件。每个读取模块元件包括开关、运算放大器和读取电容器,开关用于将该读取模块元件电连接到多个像素电路中的一个像素电路和将该读取功能块元件从该像素电路上断开,运算放大器被电连接到开关,并且读取电容器与运算放大器并联连接。
在再另一个实施例中,提供了一种显示器,该显示器使用对亮度退化进行补偿后的电流来驱动多个像素电路的阵列。该显示器包括显示面板、列驱动器、读取模块和控制模块,其中,显示面板包括像素电路的阵列,这些像素电路排列成至少一行和多列,列驱动器使用驱动电流来驱动像素电路,读取模块用于确定像素电路的像素电容,并且控制模块用于控制列驱动器和读取模块的操作,控制模块可操作用来根据所确定的像素电容来确定电流校正因数,并基于电流校正因数来调整驱动电流。
附图说明
以下将参考附图来描述本发明的特征和实施例,在各附图中:
图1是示出有机发光二极管的结构的框图;
图2是示出OLED像素的电路模型的示意图;
图3a是示出可在显示器中使用的简化像素电路的示意图;
图3b是示出经过修改和简化的像素电路的示意图;
图3c是示出包括单个像素的显示器的示意图;
图4是示出用于使用补偿后的电流来驱动像素以解决像素的亮度退化问题的各步骤的流程图;
图5是示出利用读取模块电路模拟的读取电容器两端的电压的变化的曲线图;
图6是示出老化程度(age)不同的像素的电容与电压之间的关系的曲线图;
图7是示出像素的亮度与老化程度之间的关系的曲线图;
图8示出了显示器的框图;并且
图9是示出显示器的一个实施例的框图。
具体实施方式
图1以框图的形式示出了有机发光二极管(“OLED”)100的结构。OLED100可用作显示设备中的像素。以下描述称为像素,并且可以理解,该像素可以是OLED。OLED 100包括两个电极,即,阴极105和阳极110。夹在两个电极之间的是两种有机材料。与阴极105相连的有机材料是发射层,通常被称为空穴传输层115。与阳极110相连的有机材料是导电层,通常被称为电子传输层120。空穴和电子可在电极105、110处注入到有机材料中。空穴和电子在两种有机材料115、120的接合处重新结合,从而导致发光。
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