[发明专利]用于显微系统的图象处理方法无效
申请号: | 200780037464.8 | 申请日: | 2007-08-02 |
公开(公告)号: | CN101553727A | 公开(公告)日: | 2009-10-07 |
发明(设计)人: | Y·朱;X·王;T·P·塔法斯;Y·金 | 申请(专利权)人: | 伊康尼西斯公司 |
主分类号: | G01N33/48 | 分类号: | G01N33/48;C12Q1/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 刘 健;黄可峻 |
地址: | 美国康*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 显微 系统 图象处理 方法 | ||
1.用于对使用显微镜系统的荧光杂交样品的荧光原位杂交图象 进行分析的图象处理方法,所述显微镜系统具有荧光激发光源以及电 子成像装置,所述方法包括下列步骤:
使用荧光激发照明照亮所述样品;
调节所述电子成像装置的曝光参数用于在所照亮区域的焦深处捕 获所述样品的图象;
对所捕获的所述样品的图象内的所关注对象进行计数;
鉴定所述图象中的细胞核;
对所述图象中的细胞核进行节段化;
对所述细胞核中出现的荧光信号进行计数和表征;以及
解释和报告结果。
2.权利要求1的方法,其中在不同的焦深重复步骤(b)和(c)。
3.权利要求1的方法,其中调节曝光参数进一步包括:
确定所述样品的一个或者更多个最亮的斑点;
调节曝光参数,以便所述最亮的斑点基本上在所述电子成像装置 的动态范围的最大值处被曝光;
进行曝光以捕获所述图象;
分析所述被捕获图象的较暗部分,以确定是否所述较暗部分中的 细节曝光不足;以及
如果所述图象的较暗部分曝光不足,则提高所述曝光参数;
遮盖亮区域;以及
重复步骤(c)和(d),直到所述样品的较暗部分被充分成像。
4.权利要求1的方法,其中对所关注的对象进行计数进一步包 括:
在沿着所述杂交的样品的深度间隔的焦平面捕获多幅图象;
将所述所捕获的图象计算转化成由恒定反差等高线表征的强反差 图象;以及
进行计数运算法则,以对所述杂交样品的整个深度的所关注对象 进行计数。
5.权利要求1的方法,其中鉴定细胞核进一步包括:
a)计算每个所关注样品的对平移、旋转和缩放比例恒定形态描述 符;
b)计算每个所关注对象的尺寸分布;以及
c)结合基于经验的模式数据库,将模式识别运算法则用于鉴定和分 类所述所关注对象。
6.权利要求1的方法,其中对细胞核进行节段化进一步包括:
a)以连续的强度间隔计算恒定亮度的等高线,其从局部最大值开始 并朝着低阈值强度水平进行;
b)计算每个所述等高线的平均梯度;以及
c)将每个所述细胞核的边缘限定为对所述细胞核具有最大所述平 均梯度的等高线。
7.权利要求1的方法,其中解释和报告结果进一步包括:
a)形成数学柱状图结构,以便每个库对应细胞核中所包含的所述斑 点量和颜色的可能组合;
b)对每个荧光斑点进行计数,并表征它们各自的颜色;
c)在所述柱状图的所述适当库中记录所述计数的结果;
d)继续所述计数,直到一个所述库中的所述计数对应预定的数目;
e)停止所述计数,并将所述库中的计数与所有其他库中的第二大计 数进行比较;
f)如果所述第二大数目比所述预定数目低预定的百分比,则报告最 大数目库识别符;或者,
g)如果所述第二大数目与所述预定数目相同,或比预定数目大预定 的百分比,则报告为不确定的结果。
8.权利要求1的方法,其中对细胞的细胞核进行表征。
9.权利要求1的方法,其中对染色体进行计数。
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