[发明专利]事故传感器和用于处理至少一个测量信号的方法

权利要求书

1.事故传感器(S1)，具有：

一用于检测至少一个测量量的传感器元件(SE)，

一逻辑组件(AS)，

其特征在于，设有：

一个第一存储器(MEM1)，该第一存储器可被重写地构成以及在该第 一存储器中存储了用于影响该至少一个测量量的处理的、来自该事故传感 器(S1)的生产和/或来自该事故传感器(S1)的运行中的适应的第一数据，

一个第二存储器(MEM2)，在该第二存储器中固定布线地存储了用于 影响所述处理的第二数据，以便保证该传感器的基本功能，

该逻辑组件(AS)根据该第一存储器(MEM1)的一测试加载所述第 一或第二数据，用于处理所述至少一个测量量。

2.如权利要求1所述的事故传感器，其特征在于，所述逻辑组件(AS) 被构造，使得借助一校验和来进行所述测试。

3.如权利要求1或2所述的事故传感器，其特征在于，所述逻辑组件 (AS)根据所述第一或者第二数据影响对所述至少一个测量量的放大和影 响至少一个参考电压。

4.如权利要求1或2所述的事故传感器，其特征在于，该事故传感器 (S1)具有一用于消除所述传感器元件(SE)的一偏移的、快的偏移调节 单元和一用于消除一漂移的、慢的偏移调节单元，其中，所述逻辑组件(AS) 被构造，使得该逻辑组件(AS)在一初始化阶段(40，50，60，70)中使 用该快的偏移调节单元以及在一循环阶段(41，51，61，71)中使用该慢 的偏移调节单元。

5.如权利要求1或2所述的事故传感器，其特征在于，该事故传感器 (S1)具有一接口(IF1)，通过该接口该事故传感器(S1)发送所述测试 的一结果。

6.用于处理一事故传感器的至少一个测量量的方法，具有以下方法步 骤：

检测该至少一个测量量，

其特征在于以下方法步骤：

测试一个第一存储器(MEM1)，该第一存储器可被重写地构成，

根据该测试加载第一或者第二数据，其中，这些第一数据存储在该第 一存储器(MEM1)中，这些第二数据固定布线地存储在一个第二存储器 中(MEM2)，

通过来自所述事故传感器(S1)的生产和/或来自所述事故传感器(S1) 的运行中的适应的所述第一数据或所述第二数据影响所述处理，以便保证 该传感器的基本功能。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，借助一校验和来进行所述测 试。

8.如权利要求6或7所述的方法，其特征在于，根据所述第一或第二数 据来影响对所述至少一个测量量的放大和影响至少一个参考电压。

9.如权利要求6或7所述的方法，其特征在于，当在一循环阶段中所述 测试指示一错误时，所述被处理的至少一个测量量的发送在一预定的时间 上被抑制。

10.如权利要求6或7所述的方法，其特征在于，在一初始化阶段(40， 50，60，70)中使用一快的偏移调节，用于消除一用于检测所述至少一个 测量量的传感器元件(SE)的一偏移，在一循环阶段中使用一慢的偏移调 节，用于消除一漂移。