[发明专利]用于监控多个电发光体的方法以及用于借助紫外辐射对物质进行消毒的装置

权利要求书

1.一种用于监控结构相同的至少三个电发光体(1，2，3)中的多个 电发光体的方法，包括：

a.对所述发光体(1，2，3)中的多个发光体施加以来自至少一个镇 流器(4，6，7，8)的至少一个供给信号，

b.分别针对每个单个的发光体(1，2，3)读取至少一个参数，

c.从不同发光体(1，2，3)的所读取的参数的至少一些参数中形成 至少一个参考值，

d.将所述参考值与发光体(1，2，3)中的单个发光体的参数进行比 较，

e.针对每个如下发光体(1，2，3)生成信号：所述发光体的参数相 对于参考值超过预先给定的偏差。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述参考值是所述参 数的平均值。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述参考值由所 读取的全部参数形成。

4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述参考值分别 在没有考虑在步骤c.中要与所述参考值比较的参数的情况下形成。

5.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，步骤b.至e.以相 同的时间间隔重复。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述发光体(1，2，3) 中的每个发光体的参数在一个时间间隔上被多次读取和存储，其中能够确 定所述参数和所述参考值的时间分布。

7.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，当发光体的所述 参数与所述参考值的偏差的时间上的变化超出确定的边界值时，针对该发 光体生成信号。

8.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，镇流器(4，6，7， 8)的供给信号根据额定值来调节。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，发光体(1，2，3)的 所述参数由该发光体上的供给信号来确定。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述参数是发光体(1， 2，3)的有效供给电压(U_eff1，U_eff2，U_eff3)。

11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述参考值是发光 体的所述参数的平均值，其中预先给定的偏差不超过平均值的10％。

12.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，预先给定的偏差是 平均值的5％。

13.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，额定值是一个或多个 发光体(1，2，3)的有效电流强度。

14.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，额定值是一个或多个 发光体(1，2，3)的电功率的额定值。

15.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，供给信号通过脉宽调 制来调节。

16.根据权利要求14所述的方法，其特征在于，通过供给信号的占 空比能够调节有效的供给电压。

17.根据权利要求16所述的方法，其特征在于，供给信号是恒定幅 度的矩形电压。

18.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，发光体(1，2， 3)分别是气体放电管。

19.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述多个发光体 包括至少十个。

20.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述多个发光体 包括至少一百个发光体。

21.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，在独立的供给信 号的意义上，所述发光体(1，2，3)中的每个发光体都与一个镇流器(6， 7，8)关联。