[发明专利]用于蚀刻透明和导电氧化物层的可印刷介质有效
申请号: | 200780040494.4 | 申请日: | 2007-10-05 |
公开(公告)号: | CN101600779A | 公开(公告)日: | 2009-12-09 |
发明(设计)人: | W·斯托库姆;A·库拜尔贝克 | 申请(专利权)人: | 默克专利股份有限公司 |
主分类号: | C09K13/06 | 分类号: | C09K13/06;H01L21/306 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 贾成功 |
地址: | 德国达*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 蚀刻 透明 导电 氧化物 可印刷 介质 | ||
1.蚀刻糊剂形式的用于蚀刻透明和导电氧化物表面和层的可印 刷、可分配的蚀刻介质,其包含:
a)磷酸,
b)至少一种溶剂,
c)相对颗粒直径为20nm-80nm和BET比表面积为40-100m2/g的 石墨和/或炭黑,所述相对颗粒直径按照说明书第8页第13行至第9 页第10行中的记载来测定,
d)任选的增稠剂,和
e)任选的添加剂。
2.权利要求1的蚀刻介质,其特征在于,其中所述添加剂是消泡 剂、触变剂、流动控制剂和粘合促进剂。
3.权利要求1的蚀刻介质,其特征在于,其中所述添加剂是脱气 剂。
4.权利要求1的蚀刻介质,其包含相对颗粒直径从20nm至小于 50nm和BET比表面积为50-70m2/g的石墨或炭黑粉末。
5.权利要求1的蚀刻介质,其包含相对颗粒直径为30nm-45nm 的石墨或炭黑粉末。
6.权利要求1的蚀刻介质,其包含相对颗粒直径为40nm和BET 比表面积为62m2/g的炭黑粉末。
7.权利要求1-6的任一项的蚀刻介质,其以少于8wt%但超过 0.5wt%的量包含石墨或炭黑粉末。
8.权利要求1-6的任一项的蚀刻介质,其以3-7wt%的量包含石 墨或炭黑粉末而且粘度为25-35Pa·s。
9.权利要求1-8的任一项的蚀刻介质用于在半导体制造期间蚀 刻透明、导电氧化物层的用途。
10.权利要求1-8的任一项的蚀刻介质用于在120-170℃的温度 下蚀刻ITO的用途。
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