[发明专利]一种非边界扫描数字器件的测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及电子通讯领域的边界扫描测试技术，具体涉及一种非边界扫 描数字器件的测试方法。

背景技术

随着微电子技术、表面贴装技术和印制电路板制造技术的不断发展，印 制电路板变得越来越小、密度越来越大、复杂程度越来越高。面对这样的发 展趋势，如果仍然采用传统的“针床”夹具的测试方法来全面彻底地测试焊 接情况，不仅实现上难度较大，测试夹具的成本也很高。

20世纪80年代，联合测试活动组(JTAG，Joint Test Action Group)组 织制订了边界扫描测试标准，1990年被美国电气电子工程师协会(IEEE) 认可，并正式命名为IEEE1149.1-1990边界扫描测试(BST，Boundary-Scan Test)标准。依据该标准能够快速地测试到高密度电路板上的JTAG IC内部 故障，也可测试到JTAG器件之间的互连故障等，解决了表面贴装LSIC(大 规模集成电路)和VLSIC(超大规模集成电路)印制电路板电路的测试性问 题。因此，基于IEEE1149.1-1990规范的边界扫描测试技术提供了有效地测 试引线间隔致密的电路板器件的能力。

在现在的电子系统中，越来越多的边界扫描器件被使用，但非边界扫描 数字器件仍然大量存在。通过边界扫描技术已经能测试边界扫描器件之间的 故障状况，在对电子系统质量要求越来越高的今天，测试覆盖率必须尽可能 提高，通过边界扫描技术还无法直接对非边界扫描数字器件进行测试。在现 在的电子系统中，很多边界扫描器件之间往往有一些逻辑简单的非边界扫描 器件，获取一种通过边界扫描来测试非边界扫描器件的方法显得很有必要。

美国专利US6378094“Method and system for testing cluster circuits in a  boundary scan environment”，提出了一种非边界扫描数字器件的测试方法， 不仅输入文件较多，并且还需要经过好几次转化才能得到所需的测试向量。

中国专利02118303.1“一种非边界扫描器件逻辑簇故障测试方法”中，提 出了一个非边界扫描数字器件的测试思路，不过这只是任何一个测试都需具 备的一个测试思路，对于本测试方向，看不出其具体的实现方法。

经过检索，现有通过边界扫描技术来对非边界扫描数字器件进行测试的 方法不多，现有方法也有很多可改进之处。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于，提供一种非边界扫描数字器件的测试 方法，针对现有技术中非边界扫描数字器件测试方法的不足，通过边界扫描 技术实现对非边界扫描数字器件测试，提高测试覆盖率进而提高电子系统质 量。

本发明提供一种非边界扫描数字器件的测试方法，基于边界扫描测试实 现对电路板上非边界扫描器件的测试，包括如下步骤：

(1)获取电路板上各边界扫描器件的边界扫描描述语言BSDL文件、 电路板的网表文件，设定边界扫描链路信息，定义非边界扫描器件的激励响 应文件；

(2)利用边界扫描链路信息及各个边界扫描器件的边界扫描描述语言 BSDL文件，得到整个边界扫描链路中各个边界扫描单元的信息；

(3)根据所述激励响应文件、所述网表文件以及各个边界扫描单元的 信息，生成整个测试的激励响应向量；

(4)通过边界扫描测试的硬件，将激励响应向量作为测试向量发送至 被测器件，并采集测试响应，在采集完成后，分析测试响应并故障定位。

进一步地，步骤(1)进一步包括如下步骤：

对所述边界扫描描述语言BSDL文件、网表文件、边界扫描链路信息、 非边界扫描器件的激励响应文件进行语法检查并纠正错误，直到各个文件都 经语法检查正确为止。

进一步地，步骤(1)中所述边界扫描链路信息包括：

边界扫描链路中的边界扫描器件信息，及各个边界扫描器件在整个边界 扫描链路中的具体位置，即网络链路信息；

在所述边界扫描链路信息中：

边界扫描器件的名称要和边界扫描描述语言BSDL文件名一致，并且第 一个器件为最靠近边界扫描链路测试数据输出TDO的器件，最后一个器件 为最靠近边界扫描链路的测试数据输入TDI的器件；