[发明专利]用于在接受染色的纺织材料上进行光学读取的设备和方法

权利要求书

1.用于在接受染色的纺织材料上进行光学读取的方法，其特征在于，它包括下列操作步骤：

提供第一光学读取腔室(10)，染色浴流入所述第一光学读取腔室中，所述染色浴从对给定纺织材料进行染色工艺的染色箱或染色机(T)中抽出；

提供由与制造所述纺织材料相同的材料制成的样本，并且将所述样本定位在所述第一光学读取腔室(10)中；

提供第二光学读取腔室，来自所述染色箱或染色机(T)的染色浴流入所述第二光学读取腔室中；

在所述第一光学读取腔室内进行反射光学读取，在所述第二光学读取腔室内进行透射光学读取，并且将分别对应于由所述第一光学读取腔室内样本表面反射的光和/或透射过容纳于所述第二光学读取腔室内的流体的光的信号进行传送，所述信号被传送至光学处理工具(20)；

其中，检测染色浴温度以根据检测到的染色浴温度执行反射读取或透射读取。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，如果检测到的染色浴温度超过给定阈值时，执行反射读取。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，它包括下列操作步骤：

提供第一光学读取腔室(10)，染色浴流入所述第一光学读取腔室中，所述染色浴从对给定纺织材料进行染色工艺的染色箱或染色机(T)中抽出；

提供由与制造所述纺织材料相同的材料制成的样本或样品(F)，并且将所述样本定位在位于所述第一光学读取腔室(10)内的相应支撑件(3)上，所述样本通过在所述第一光学读取腔室内流动的染色浴进行染色；

使所述支撑件(3)循环接近光学检测器或探针(2)，或反过来，使光学检测器或探针(2)接近支撑件(3)；

利用所述光学检测器(2)向样品表面发射发光信号，并且将所述样品表面反射的光传送至光学处理工具；和

使带有材料样品(F)的所述支撑件远离所述光学检测器(2)，或反过来，使所述光学检测器(2)远离带有材料样品(F)的所述支撑件。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述样品(F)放在支撑件(3)上，所述支撑件可以远离和朝向所述光学读取探针弹性移动。

5.如权利要求3所述的方法，其特征在于，通过给样品施加推力使样品接近光学读取探针。

6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述反射光学读取是由包括主体(1)的装置执行的，在所述主体内部提供有所述第一光学读取腔室(10)，所述第一光学读取腔室具有输入段(I)和输出段(U)并且由从染色箱或染色机(T)抽出的染色浴穿过，纺织材料在所述染色箱或染色机中接受染色，在所述第一光学读取腔室(10)内布置光学检测器或探针(2)和为使接受染色的纺织材料的样品或样本(F)相应于探针(2)定位而设置的支座，所述支座具有用于支撑件(3)的定位装置，所述样品(F)放在所述支撑件上，使得样品浸在流动于所述第一光学读取腔室(10)内的染色浴中，所述支撑件(3)可移动地定位在所述定位装置上；并且所述支撑件(3)可朝向所述探针(2)移动，或反过来，所述探针(2)可朝向所述支撑件(3)移动。