[发明专利]用于对对象进行检查的计算机断层扫描(CT)C型臂系统和方法无效

专利信息
申请号: 200780042349.X 申请日: 2007-11-07
公开(公告)号: CN101541240A 公开(公告)日: 2009-09-23
发明(设计)人: P·G·范德哈尔 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00;A61B6/03;G01N23/04;G06T5/00;G06T5/50
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 王 英;刘炳胜
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 用于 对象 进行 检查 计算机 断层 扫描 ct 系统 方法
【权利要求书】:

1、一种用于检查感兴趣对象的计算机断层扫描(CT)C型臂系统,所述CT-C型臂系统包括:

X射线管,其适于生成X射线;

X射线探测单元,其用于获取CT切片组;

其中,所述X射线管,以及所述X射线探测单元适于在C型臂上围绕检查对象围绕公共轴旋转;

处理单元,通过所述处理单元可以执行以下步骤:

使用第一扫描参数获取所述CT切片的第一3D数据体积;

将所述第一数据体积调整为第二数据体积(分割后体积),从而使得可以将至少一个预定Hounsfield(H)范围的所述第一数据体积的体素值设置为至少一个预定H值;

使用所述第一扫描参数生成所述第二数据体积的前向投影;

将所述投影重建为第三数据体积;

通过使所述第三体积与所述第二体积相减生成第四数据体积(仅伪影体积);

通过使所述第一体积与所述第四体积相加生成第五体积。

2、一种用于对所检查对象的计算机断层扫描(CT)切片的3D数据体积进行伪影校正的方法;其中,由CT C型臂系统在180°或更小的角范围内围绕通过所述对象的轴在不同的角度处扫描CT切片中的每者;其中,所述方法包括以下步骤:

使用第一扫描参数获取所述对象的第一3D数据体积;

将所述第一数据体积调整为第二数据体积(分割后体积),从而使得可以将至少一个预定Hounsfield(H)范围的所述第一数据体积的体素值设置为至少一个预定H值;

使用所述第一扫描参数生成所述第二数据体积的前向投影;

将所述投影重建为第三数据体积;

通过使所述第三体积与所述第二体积相减生成第四数据体积(仅伪影体积);

通过使所述第一体积与所述第四体积相加生成第五体积。

3、根据权利要求2所述的方法;其中,将所述第一数据体积调整为所述第二数据体积,从而使得将在-500H和200H范围之间的所述第一数据体积的体素值设置为0H。

4、根据权利要求3或4所述的方法;其中,将所述第一数据体积调整为所述第二数据体积,从而使得将小于-850H的所述第一数据体积的体素值设置为-1000H。

5、根据权利要求2所述的方法;还包括:

按照所述第五数据体积的图像元素(像素)的体素相应矩阵重建图像。

6、根据权利要求2至5所述的方法,还包括:

向所述第二数据体积施加低通滤波器。

7、一种计算机可读介质,用于检查感兴趣对象的计算机程序存储于所述介质中,当处理器执行所述计算机程序时,所述计算机程序引起所述处理器实施以下步骤:

使用第一扫描参数获取CT切片的第一3D数据体积;

将所述第一数据体积调整为第二数据体积(分割后体积),从而使得可以将至少一个预定Hounsfield(H)范围的所述第一数据体积的体素值设置为至少一个预定H值;

使用所述第一扫描参数生成所述第二数据体积的前向投影;

将所述投影重建为第三数据体积;

通过使所述第三体积与所述第二体积相减生成第四数据体积(仅伪影体积);

通过使所述第一体积与所述第四体积相加生成第五体积。

8、一种用于检查感兴趣对象的程序元件,所述程序元件由处理器执行,其引起所述处理器实施以下步骤:

使用第一扫描参数获取CT切片的第一3D数据体积;

将所述第一数据体积调整为第二数据体积(分割后体积),从而使得可以将至少一个预定Hounsfield(H)范围的所述第一数据体积的体素值设置为至少一个预定H值;

使用所述第一扫描参数生成所述第二数据体积的前向投影;

将所述投影重建为第三数据体积;

通过使所述第三体积与所述第二体积相减生成第四数据体积(仅伪影体积);

通过使所述第一体积与所述第四体积相加生成第五体积。

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