[发明专利]信号处理方法和用于尺度计量系统的单元

权利要求书

1.一种用以确定非铁导电物体(5)的至少一个尺度(d)的信号处理方法，包括测量磁场(8)对激励(X)改变的反应(9，10)的步骤，其中所述磁场(8)施加于所述物体，

●获取所述磁场(8)的与时间有关的所述反应(9，10)的多个样本(Y_AAi，Y_ABi，Y_BBi，Y_BAi)，

●根据所述多个样本(Y_AAi，Y_ABi，Y_BBi，Y_BAi)来获得测量的场拉普拉斯变换传递函数(H)，所述测量的场拉普拉斯变换传递函数(H)代表在所述激励(X)与测量的场反应(Y_A，Y_B)之间的实际动态行为，

●通过将所述测量的场拉普拉斯变换传递函数(H)与预定场拉普拉斯变换传递函数(G(d))拟合来确定所述物体(5)的所述至少一个尺度(d)，其中所述预定场拉普拉斯变换传递函数(G(d))表示以一个尺度(d)为参数的在所述激励(X)与所述测量的场反应(Y_A，Y_B)之间的动态行为，

其特征在于：在确定期间，所述预定场拉普拉斯变换传递函数(G(d))的一部分代表所述物体(5)对磁场的透射行为(S_T)并且所述预定场拉普拉斯变换传递函数(G(d))的另一部分代表所述物体对磁场的反射行为(S_R)。

2.根据权利要求1所述的方法，其中使用所述磁场(8)的与时间有关的所述反应(9，10)的等距样本来获得所述测量的场拉普拉斯变换传递函数(H)。

3.根据权利要求1或者2所述的方法，其中使用所述磁场(8)的与时间有关的所述激励(X)的等距样本来获得所述测量的场拉普拉斯变换传递函数(H)。

4.根据权利要求1或者2所述的方法，其中使用可以由低阶传递函数代表的激励(X)来获得所述测量的场拉普拉斯变换传递函数(H)。 

5.根据权利要求4所述的方法，其中所述激励(X)是阶跃函数。

6.根据前述权利要求1或者2所述的方法，其中所述预定场拉普拉斯变换传递函数(G(d))的一部分代表场生成线圈(T_A，T_B)的行为。

7.根据前述权利要求1或者2所述的方法，其中所述预定场拉普拉斯变换传递函数(G(d))的一部分代表场测量线圈(R_A，R_B)的行为。

8.根据前述权利要求1或者2所述的方法，其中所述预定场拉普拉斯变换传递函数(G(d))的一部分代表数据采样单元(D_A，D_B)的行为。

9.根据前述权利要求1或者2所述的方法，其中还通过使用预定场拉普拉斯变换传递函数(G(d，ρ))来确定所述物体(5)的电阻率(ρ)，所述预定场拉普拉斯变换传递函数(G(d，ρ))以所述一个尺度(d)为一个参数而以所述电阻率(ρ)为另一参数来代表在所述激励(X)与所述测量的场反应(Y_A，Y_B)之间的动态行为。

10.一种用于尺度计量系统(1)的信号处理单元(11)，包括用以测量磁场(8)对激励(X)改变的反应(9，10)的装置(R_A，R_B)，其中所述磁场(8)被施加于非铁导电物体(5)，

●用以获取所述磁场(8)的与时间有关的所述反应(9，10)的多个样本(Y_AAi，Y_ABi，Y_BBi，Y_BAi)的装置，

●用以根据所述多个样本(Y_AAi，Y_ABi，Y_BBi，Y_BAi)来获得测量的场拉普拉斯变换传递函数(H)的装置，所述测量的场拉普拉斯变换传递函数(H)代表在所述激励(X)与所述测量的场反应(Y_A，Y_B)之间的实际动态行为，

●用以通过将所述测量的场拉普拉斯变换传递函数(H)与预定场拉普拉斯变换传递函数(G(d))拟合来确定所述物体(5)的至少一个尺度(d)的装置，其中所述预定场拉普拉斯变换传递函数(G(d))表示以一个尺度(d)为参数的在所述激励(X)与所述测量的场反 应(Y_A，Y_B)之间的动态行为，

其特征在于：在确定期间，所述预定场拉普拉斯变换传递函数(G(d))的一部分代表所述物体(5)对磁场的透射行为(S_T)并且所述预定场拉普拉斯变换传递函数(G(d))的另一部分代表所述物体对磁场的反射行为(S_R)。