[发明专利]有源矩阵发光显示装置及其驱动方法无效
申请号: | 200780043753.9 | 申请日: | 2007-11-21 |
公开(公告)号: | CN101542571A | 公开(公告)日: | 2009-09-23 |
发明(设计)人: | D·A·菲什;N·D·扬;H·J·科尼利森;S·C·迪恩 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
主分类号: | G09G3/32 | 分类号: | G09G3/32 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 李亚非;刘 红 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 有源 矩阵 发光 显示装置 及其 驱动 方法 | ||
1.一种包括显示像素阵列的有源矩阵显示装置,各像素包括:
电流驱动的发光显示单元(2);
驱动晶体管(22),用于驱动经过所述显示单元的电流;
存储电容器(24),用于存储将用于寻址所述驱动晶体管(22)的电压;以及
寻址晶体管(16),用于在像素寻址过程中将来自数据线(6)的数据耦合到所述像素,
其中所述寻址晶体管(16)包括光电晶体管,且所述数据线(6)用于监视所述光电晶体管。
2.如权利要求1所述的装置,其中所述驱动晶体管(22)包括n型晶体管,该驱动晶体管的源极连接到所述发光显示单元(2)的正极且该驱动晶体管的漏极连接到电源线(26),并且所述存储电容器(24)连接于所述驱动晶体管的栅极与源极之间。
3.如权利要求2所述的装置,其中各像素还包括跨越所述驱动晶体管(22)连接的并且由与所述寻址晶体管相同的控制线(A1)控制的短接晶体管(30)。
4.如权利要求1所述的装置,其中所述驱动晶体管(22)包括p型晶体管,该驱动晶体管的漏极连接到所述发光显示单元(2)的正极且该驱动晶体管的源极连接到电源线(26),并且所述存储电容器(24)连接于所述驱动晶体管(22)的栅极与源极之间。
5.如任一前述权利要求所述的装置,还包括用于测量与所述光电晶体管关联的电荷的电荷测量装置(40)。
6.如权利要求1至4中的任一项所述的装置,还包括用于测量光电晶体管电流的电流测量装置(50)。
7.如任一前述权利要求所述的装置,其中所述光电晶体管(16)的外部监视是用于测试像素,且像素的所述光电晶体管(16)在所述像素的测试过程中作为用于像素输出的光传感器。
8.如权利要求1至6中的任一项所述的装置,其中像素的所述光电晶体管(16)与所述像素的所述发光显示单元(2)的光输出基本上屏蔽并且用于监视来自其它一个或者多个像素的光输出。
9.如权利要求8所述的装置,其中多个像素(62)的所述光电晶体管(16)用于监视受测试像素(60)的光输出,所述多个像素在所述受测试像素(60)周围形成环。
10.如任一前述权利要求所述的装置,其中所述电流驱动的发光显示单元(2)包括电致发光的发光二极管装置。
11.一种便携的由电池驱动的装置(89),包括如任一前述权利要求所述的显示装置(80)。
12.一种驱动包括显示像素阵列的有源矩阵显示装置的方法,各像素包括:电流驱动的发光显示单元(2);驱动晶体管(22),用于驱动经过所述显示单元的电流;以及存储电容器(24),用于存储将用于寻址所述驱动晶体管的电压,所述方法包括:
在将使用像素寻址晶体管(16)测试的一个或者多个像素的所述存储电容器(24)中存储像素驱动电平,其中所述像素寻址晶体管(16)将所述像素耦合到数据线(6);
在测试过程中导通待测试的一个或者多个像素的所述显示单元(2),其中所述受测试像素的光输出照射所选一个或者多个像素的所述寻址晶体管(16),并且产生经过所选一个或者多个像素的所述寻址晶体管的电荷流;
使用所述数据线(6)监视所述电荷流以确定所述受测试的一个或者多个像素的照射水平;以及
获得用于在所述受测试的一个或者多个像素的后续寻址中使用的像素校正信息。
13.如权利要求12所述的方法,其中所选一个或者多个像素包括所述受测试像素,从而像素的所述寻址晶体管(16)作为用于像素输出的光传感器。
14.如权利要求13所述的方法,其中监视所述电荷流包括测量所述受测试像素的所述存储电容器(24)上的电荷。
15.如权利要求14所述的方法,其中在待测试的一个或者多个像素的所述存储电容器中存储像素驱动电平包括在所有像素中存储像素驱动电平,导通受测试的一个或者多个像素的所述显示单元包括导通所有像素的所述显示单元(2),并且其中测量所述存储电容器上的电荷包括依次测量所有存储电容器(24)上存储的电荷。
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